aes俄歇电子能谱
标准主机包含Mg/Al Kα双阳极非单色化X射线源，可实现高灵敏度大面积XPS分析，可增加高温催化反应池等 zei大300W的大功率上照射X射线源，无阴影的XPS分析 锥形块体式阳极靶，抗污染能力极强 zei佳能量分辨率优于 0.8eV(Mo 3d5/2) 常规分析能量分辨和灵敏度高达1.15eV......
上市时间：2019年9月集样品全自动传输、全自动分析、智能数据采集处理于一体，体现了的超强的便捷性；拥有多种X 射线源、大半径双层能量分析器，杰出的荷电中和技术，使其获得了卓越的性能；通过丰富的硬件接口和灵活的软件接口，具备了多种功能附件和完善的表面分析技术。产品介绍岛津/Kratos公司的AXIS SUPRA+作为高端光电子能谱仪将采谱、成像功能与自动化高......
标准主机包含单色化Al Kα X射线源，可实现大面积XPS分析、小面积XPS分析和ISS分析以及XPS快速平行成像等功能。 业界zei大功率的600W单色化Al Kα X射线源，确保zei高的分析灵敏度 平均半径165mm的双层能量分析器，确保高能量分辨XPS分析和高空间分辨的XPS成像 浸入式磁透镜技术，大幅度提高分析灵敏......
Thermo Scientific™ Nexsa™ X 射线光电子能谱仪 (XPS) 系统在提供全自动、高通量的多技术分析的同时，保持研究级的高质量分析检测结果。集成ISS、UPS、REELS、拉曼等多种分析技术于一身，用户因此能够进行真正意义上的联合多技术分析，从而为微电子、超薄薄膜、纳米技术开发以及许多其他应用进一步取得进展释放潜能。......
仪器简介：美国专利 日本技术 90%市场占有率 是金属/半导体材料研发和故障分析的有力工具。空间分辨率高，信息深度5纳米以内技术参数：俄歇电子能谱仪 • He以上所有元素纳米（约5nm）表面定性/表面定量/亚表层以及深度方向信息 1） 成分 2） 图像 3） DETECT LIMIT 0.1% ......
产品介绍： •产品名称：俄歇电子能谱仪（AES） •产品型号：AER-200 •品 牌：日美纳米表面分析仪器公司(U-P) •产 地：日本 产品参数： •......
仪器简介： The microCMA is a compact (2.75" CF mount) cylindrical mirror type Auger (AES, Auger Electron Spectroscopy) analyzer. The microCMA is the most innovative Auge......
ELS100型：（电子损失谱专用） ¨ Low Energy Electron Gun designed for Electron Loss Spectroscopy(ELS) ¨ Beam Energy variable 5 to 100eV ¨ Low Energy Spread ~ 0.25eV FWHM us......
PHI710主要特点：l SEM分辨率≤ 3 nm, AES分辨率≤ 8 nm在俄歇能谱的采集分析过程中，包括谱图，深度剖析及元素分布像，需要先在SEM图像上定义样品分析区域，必然要求束斑直径小且稳定。PHI 710的SEM图像的空间分辨率优于3nm,AES的空间分辨率优于8nm(@......
服务详情俄歇电子能谱（Auger electron spectroscopy，简称AES），是一种表面科学和材料科学的分析技术。因此技术主要借由俄歇效应进行分析而命名之。这种效应系产生于受激发的原子的外层电子跳至低能阶所放出的能量被其他外层电子吸收而使后者逃脱离开原子，这一连串事件称为俄歇效应，而逃脱出来的电子称为俄歇电子。1953年，俄歇电子能谱逐渐开始被......