经济实惠的椭偏仪
主要特点完整的解决方案 – 无需额外选项即可开始测量L-Dens 3300 包括集成控制器、配备用户界面和电容式按键的高品质显示屏以及多种应用程序，可用于石油、化工和饮料等行业以及公共研究机构等应用领域。在线安装简单，可对产品持续监测。集成控制器：配备电容式按键的 TFT 显示屏实用的应用程序具有经济效益的密度测量这些传感器价格合理、经济实惠，能以三位数的高......
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可用于测定溶液，适用于疏水改性多聚糖在气水界面的聚集项目。并且参考多项行业标准0。可应用于其他生命科学行业领域。 技术参数： * 光谱范围: 190-885 nm（可扩展至2100nm） &nb......
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可用于测定OLED-有机发光二极管，适用于厚度，光学常数，掺杂的影响项目。并且参考多项行业标准0。可应用于电子/半导体行业领域。 技术参数： * 光谱范围: 190-885 nm（可扩展至2100nm） &n......
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可以用在其他化工行业领域，用来检测硫系玻璃，可完成厚度，光学常数项目。符合多项行业标准0。 技术参数： * 光谱范围: 190-885 nm（可扩展至2100nm） *......
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 参考多项行业标准0。完成硫系玻璃的检测。可以用在其他化工行业领域中的厚度，光学常数项目。 技术参数： * 光谱范围: 190-885 nm（可扩展至2100nm） *&......
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 适用于光学常数项目，参考多项行业标准0。可以检测ZnO薄膜等样品。可应用于涂料行业领域。 技术参数： * 光谱范围: 190-885 nm（可扩展至2100nm） * 微光斑可选50µm-10......
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 适用于厚度，光学常数项目，参考多项行业标准0。可以检测TiO2薄膜和多层减反膜等样品。可应用于其他化工行业领域。 技术参数： * 光谱范围: 190-885 nm（可扩展至2100nm） * ......
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 用于测定封装应用中的势垒层，符合行业标准0。适用过程控制项目。 仪器简介： 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术，基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变，通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以及光学性质等等，可测厚度范围为几埃至几十微......
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 可用于测定ZnO薄膜，适用于Al含量，膜厚度项目。并且参考多项行业标准0。可应用于电子/半导体行业领域。 仪器简介： 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术，基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变，通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以及光学性质等等，可测厚度范围为几埃......
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 参考多项行业标准0。完成ZrO2薄膜的检测。可以用在电子/半导体行业领域中的膜厚度，光学常数，组成项目。 仪器简介： 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术，基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变，通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以......