park传感器
赛默飞传感器太赫兹传感器适用于厚度,克重,密度测量项目，参考多项行业标准。可以检测橡胶,尼龙,聚酯,底层橡胶等样品。可应用于建材/家具行业领域。 Thermo Scientific™ 太 赫 兹 厚 度、 克重和密度传感器是一项独特的技术，由 Terametrix（Luna 的下属分部）开发而成，且已纳入我们的厚度测量和控制产品平台。该传感器是 ......
赛默飞 太赫兹传感器参考多项行业标准。完成橡胶,尼龙,聚酯,底层橡胶的检测。可以用在纤维行业领域中的厚度,克重,密度测量项目。 Thermo Scientific™ 太 赫 兹 厚 度、 克重和密度传感器是一项独特的技术，由 Terametrix（Luna 的下属分部）开发而成，且已纳入我们的厚度测量和控制产品平台。该传感器是 Thermo Sc......
赛默飞 太赫兹传感器用于测定橡胶,尼龙,聚酯,底层橡胶，符合行业标准。适用厚度,克重,密度测量项目。 Thermo Scientific™ 太 赫 兹 厚 度、 克重和密度传感器是一项独特的技术，由 Terametrix（Luna 的下属分部）开发而成，且已纳入我们的厚度测量和控制产品平台。该传感器是 Thermo Scientific &nbs......
赛默飞 太赫兹传感器适用于厚度,克重,湿度项目，参考多项行业标准。可以检测涂布,橡胶,建筑材料,无纺布,锂离子电池等样品。可应用于纤维行业领域。 在线厚度测量系统是一种测量和控制系统，用于在线测量连续生产的任何产品。在线厚度测量系统可实现均匀、可靠的功能性产品的高效生产。其内置各类非接触式在线定量或厚度传感器，适用于塑料、橡胶、包装、建筑用品和纺织品领域的扁......
赛默飞传感器太赫兹传感器参考多项行业标准。完成涂布,橡胶,建筑材料,无纺布,锂离子电池的检测。可以用在纺织/印染行业领域中的厚度,克重,湿度项目。 在线厚度测量系统是一种测量和控制系统，用于在线测量连续生产的任何产品。在线厚度测量系统可实现均匀、可靠的功能性产品的高效生产。其内置各类非接触式在线定量或厚度传感器，适用于塑料、橡胶、包装、建筑用品和纺织品领域的......
Park NX-HivacAFM及扫描探针Park原子力显微镜 课件讲义
参考成交价格： 200~300万元[人民币]
Park原子力显微镜 扫描探针显微镜/SPM（原子力显微镜）
型号：Park NX-Hivac
点击查看下载Park NX-HivacAFM及扫描探针Park原子力显微镜 课件讲义相关资料，进一步了解产品。 电动激光对准Park电动激光对准使用户无需输入即可无缝衔接自动化测量例程。凭借着我们先进的预准直悬臂架，在更换探针时激光已对准悬臂。只需要调整定位旋钮，便可在X和Y轴上任意定位激光光点，达到最佳位置。 提高精度和生产率NX-Hivac......
点击查看下载Park原子力显微镜Park NX-3DMAFM及扫描探针 样本相关资料，进一步了解产品。 Throughput Like Never Before受限于低通量，纳米级设计无法用于生产质量控制中，但原子力显微镜让这一切成为可能。随着Park Systems发布革命性的高通量解决方案，原子力显微镜也得以进入自动化线上制造领域。这其中包括创新的......
点击查看下载AFM及扫描探针Park原子力显微镜Park NX20 样本相关资料，进一步了解产品。 没有前沿或后沿过冲现象终身无需校准，减少设备维护成本Park NX系列原子力显微镜 传统的原子力显微镜 QuickStep SCM模式比传统的扫描式电容显微镜(SCM)扫描速度快十倍信号灵敏度、空间分辨率和数......
Park NX20 300 mmAFM及扫描探针Park原子力显微镜 Park 原子力显微镜的电学模式
参考成交价格： 250~300万元[人民币]
Park原子力显微镜 扫描探针显微镜/SPM（原子力显微镜）
型号：Park NX20 300 mm
点击查看下载Park NX20 300 mmAFM及扫描探针Park原子力显微镜 Park 原子力显微镜的电学模式相关资料，进一步了解产品。 Park NX20 300mm可用于 300mm晶片圆测量和分析的顶级自动化纳米测量工具Park NX20 300mm是业界首个大样品原子力显微镜，支持300mm×300mm全程机动化。新升级的Park NX20......
Park原子力显微镜Park NX10 SICMAFM及扫描探针 Park NX系列 C-AFM Users Manual
参考成交价格： 100~150万元[人民币]
Park原子力显微镜 扫描探针显微镜/SPM（原子力显微镜）
型号：Park NX10 SICM
Park原子力显微镜Park NX10 SICMAFM及扫描探针 Park NX系列 C-AFM Users Manual 针对不同使用环境，有着不同的操作与维护流程，点击查看操作维修手册。 在C-AFM测量中，导电尖端以接触模式AFM扫描表面，以映射出同一表面的形貌。同时，通过测量针尖与样品之间的电流，来反映样品表面的电导率等电特性。一般情况下，针尖与样品......