半导体分析方法
仪器名称：Zeta电位分析仪研究对象：纤维、薄膜、粉末、粒子、固体金属或非金属片等材料。主要用途：测量材料的表面电荷，了解材料表面上的电荷状况，研究材料表面性能。主要应用：材料表面改性 材料表面黏附、吸附、脱附等 ......
安捷伦三重四极杆 ICP-MSAgilent 8900 可用于测定半导体，适用于元素分析项目。并且参考多项行业标准。可应用于电子/半导体行业领域。 ICP-MS 作为一种金属元素分析仪器应用于半导体产业链，始于 20 世纪 80 年代。随着半导体制程的不断迭代，整个行业对 ICP-MS 的性能提出了越来越高的要求。过去 30 年来，位于日本东京的安捷伦 IC......
梅特勒托利多 TGA/DSC1 同步热分析仪TGA/DSC 1专业型参考多项行业标准GWP®准确测量 – 全球的衡量标准。完成材料的检测。可以用在电子/半导体行业领域中的水份,溶剂,温度项目。 在1964年，梅特勒就上市了第一台商品化的TGA/DTA同步热分析仪。40多年来，梅特勒托利多秉承一贯的精湛的制造工艺，不断革新、发展、完善，zei新的同步热分析......
安捷伦ICP-AES5800适用于元素分析项目，参考多项行业标准。可以检测半导体等样品。可应用于电子/半导体行业领域。 ICP-MS 作为一种金属元素分析仪器应用于半导体产业链，始于 20 世纪 80 年代。随着半导体制程的不断迭代，整个行业对 ICP-MS 的性能提出了越来越高的要求。过去 30 年来，位于日本东京的安捷伦 ICP-MS 全球研发中心与半导......
安捷伦ICP-AES5900 ICP-OES 可用于测定半导体，适用于元素分析项目。并且参考多项行业标准。可应用于电子/半导体行业领域。 ICP-MS 作为一种金属元素分析仪器应用于半导体产业链，始于 20 世纪 80 年代。随着半导体制程的不断迭代，整个行业对 ICP-MS 的性能提出了越来越高的要求。过去 30 年来，位于日本东京的安捷伦 ICP-MS ......
点击查看下载粒度分析仪岛津激光粒度仪 应用于电子/半导体相关资料，进一步了解产品。 SALD系列提供了一组产品，适合多种粒度范围测量。参考测量范围表选择更佳型号。 型号-1型号-2测量方法激光衍射方法测量范围0.25-50μm*0.25-350μm*光学系统光源半导体激光器（波长670纳米）样品池批式池高耐火玻璃及四氟乙烯循环池-融合硅，SU304，及四氟乙......
点击查看下载粒度分析仪岛津激光粒度仪 应用于电子/半导体相关资料，进一步了解产品。 SALD系列包含多款产品，适合多种粒度范围测量。请根据您的测量范围选择更佳型号 SALD® 201V粒度分析仪是一个便捷、经济的仪器，具有高性能、高可靠性，广泛应用于食品、液体、化妆品和制药领域。其测量范围为0.25到350µm，适用于大部分常规分析需求。Windows® 9......
点击查看下载瑞士分析梅特勒托利多XPR系列 应用于电子/半导体相关资料，进一步了解产品。 XPE精密天平始终为大质量样品提供卓越的称量性能， 首创的SmartPanTM易巧秤盘及全金属外壳设计，确保天平即使在恶劣环境下，始终具有卓越的稳定性和重复性，符合人体工程学的显示屏支架，以及一体化承水盘设计，使日常的称量任务和清洁工作变得更加轻松。 XPR分析天平具有......
梅特勒托利多瑞士分析XPR系列 应用于电子/半导体针对不同使用环境，有着不同的操作与维护流程，点击查看操作维修手册。 此天平符合现行标准和指示。它支持所有国际质量保证体系规定的要求、工作技术和操作规范，例如，GLP （良好实验室规范）、GMP （良好生产管理规范）。此天平获得了 CE 一致性声明，而其制造商梅特勒托利多通过了 ISO 9001 和 ISO 1......
