超分辨率显微镜时间
HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）作为荧光光谱仪的全球领导者，可以提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种耦联技术的解决方案。HORIBA Scientific从上世纪70年代开始一直专注于TCSPC系统的开发，并始终保持着荧光系统设计和生产领域的世界领导地位。基于四十年的寿命系统研发和生产经验，新一代荧光寿命测试系统DeltaF......
仪器简介： HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）----荧光光谱仪器的全球领导者，提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。 新一代荧光寿命测试系统-DeltaPro，其独一无二的高性能以及简单实用的特点，对TCSPC系统有了新的定义。HORIBA科学仪器部从上世......
【技术特点】-- SPM-8100FM高分辨率原子力显微镜SPM-8100FM特点： 高分辨率 使用调频模式。 在大气及液体环境中的噪音减少至传统调幅模式的1/20。 即使在大气或液体环境下，也能获得匹敌真空原子力显微镜的分辨率。 使测量固液界面的分层结构成为可能。 改进操作性 高速扫描器拓展了观察区域，缩短了观察时间。 双显示器和信号指示功......
结合先进的超高时间分辨TCSPC电子系统（<400fs/pt），并配合多种即插即用的高频脉冲光源和高度集成化的检测技术，整机配置灵活，满足<5ps短寿命测试要求，成为科研深入应用开发的高效利器。产品特点超短寿命测试：<5ps（配合飞秒激光器和MCP检测器）磷光分辨率：<42ns综合分析软件，5指数寿命拟合高稳定性设计，使用维护简单高度......
技术指标压入载荷zei大压入载荷100 mN分辨率3 nN压入位移zei大压入位移100 μm分辨率0.003 nm 载荷框架刚度> 107 N/m国际标准ISO 14577, ASTM E2546主要特点用于低载荷测量的zei佳的计量型纳米压痕测试仪表面参比系统上的真实力传感器确保可直接测量微牛级的力主动表面参比技术：独特的专利设......
UNHT³ 高精度超纳米压痕测试仪采用真实力传感器和位移传感器，可用于测量材料在纳米尺度下的机械性能。UNHT³ 采用独特的主动表面参比专利技术，消除了热漂移和框架刚度的影响。因此，非常适用于对所有类型的材料（包括聚合物、纳米涂层和软组织）进行原子到纳米尺度的长时间测量。对于极低或极温度下的测量，真空室版本 (UNHT³ HTV) 适用于 -150℃ 至 8......
市场上稳定性zei高的纳米压痕测试仪长期蠕变测试不需要进行热漂移修正未修正的热漂移低至 10 fm/sec，消除了热漂移影响即使在高载荷下也保持高框架刚度 (>108 N/m)独特的无热膨胀 Macor 材料载荷和位移的全部反馈控制系统用于低载荷测量的zei佳的计量型纳米压痕测试仪表面参比系统上的真实力传感器确保可直接测量微牛级的力主动表面参......
分辨率媲美N-SIM的个人超分辨率显微镜N-SIM E运用结构照明显微镜技术，实现了2倍于传统光学显微镜的空间分辨率（约115nm）。作为一套精简、经济的超分辨率系统，N-SIM E支持常用的激发波长和基本的成像模式，是个人实验室的理想选择。 ● 两倍于传统光学显微镜的高分辨率N-SIM E 结合“结构照明显微技术”，并搭配尼......
系统主要功能指标：宽光谱测量范围：UV-VIS-NIR, 200-900nm;高系统时间分辨率： <=5ps寿命衰减测量时间范围：<=50ps—100us 高系统光谱分辨率： <0.1nm宽单次成谱范围： >=200nm静态（稳态）光谱采集，瞬态时间分辨光谱图像及荧光寿命曲线系统集成......
系统主要功能指标：宽光谱测量范围：UV-VIS-NIR, 200-900nm; 高系统时间分辨率： <=5ps 寿命衰减测量时间范围：<=50ps—100us 高系统光谱分辨率： <0.1nm 宽单次成谱范围： >=200nm 静态（稳态）光谱采集， 瞬态时......