茎扫描电镜
TESCAN MIRA 是最新推出的第四代高性能扫描电子显微镜，配置有高亮度肖特基场发射电子枪，在TESCAN 的 Essence™ 操作软件的同一个窗口中实现了 SEM 成像和实时元素分析。这种结合大大简化了从样品中获取形貌和元素数据的过程，从而使得MIRA 成为质量控制、失效分析和实验室常规材料检测的有效分析解决方案。TESCAN MIRA 具有创新的光......
场发射扫描电镜(Field Emission Scanning Electron Microscopy，FE-SEM)是一种高分辨率、高清晰度的电镜技术。其原理是在极细的钨(W)尖端处实现高强度的电场，这个电场可以帮助电子从钨尖端跃迁到样品上，形成高能的电子束，用来扫描和成像样品表面。TESCAN MIRA 是最新推出的第四代高性能扫描电子显微镜，配置有高亮......
TESCAN VEGA COMPACT 秉承了前一代 VEGA 系列电镜的优异性能，是一款入门级，但是功能强大的分析型钨灯丝扫描电镜。紧凑简约的配置、优化的成像能力以及集成的元素成分分析功能，VEGA COMPACT 为研究常规材料的实验室提供一个高性价比的解决方案。VEGA COMPACT 采用了最新的 Essence™ 电镜控制软件，使得扫描电镜成像和成......
通过对电子枪内的钨灯丝加高电压，使电子枪处于热激发状态，在阳极作用下，处于热激发的电子枪就可以激发出电子束。经过扫描线圈磁场的控制，电子束在样品表面逐点扫描，激发出二次电子、背散射电子等物理信号，经探测器收集、放大器放大后，调制得图像。钨灯丝扫描电镜适合大量的常规检测。TESCAN VEGA COMPACT 秉承了前一代 VEGA 系列电镜的优异性能，是一款......
钨灯丝扫描电镜总发射电流和束斑都较大，抗干扰能力和稳定性都较好，低真空下可以对不导电样品无荷电成像，可用于形貌观察、显微结构分析、断口形貌分析，在材料、地质、矿产、冶金、机械、化学、化工、物理、电子、生物、医学等领域都有广泛的用途。TESCAN VEGA COMPACT 秉承了前一代 VEGA 系列电镜的优异性能，是一款入门级，但是功能强大的分析型钨灯丝扫描......
TESCAN CLARA 是一款适用性非常广泛的扫描电子显微镜，能够满足各个科研和技术领域对不同材料进行高质量成像和表征的需求。TESCAN CLARA 使用了 TESCAN BrightBeam™ 型 SEM 镜筒，该镜筒配置了可变比例式静电-电磁复合物镜，可以在低加速电压下实现无漏磁超高分辨成像，这对于包括磁性样品在内的各类样品具有广泛的适用能力。主要特......
TESCAN AMBER 是 TESCAN 第四代 FIB-SEM 的新成员，是一款超高分辨双束 FIB-SEM 系统，它可以提供无与伦比的图像质量，具有强大的扩展分析能力，并能以极佳的精度、效率完成复杂的纳米加工和操作，可满足现今工业研发和学术界研究的所有需求。TESCAN AMBER FIB-SEM的优点：新一代镜筒内电子加速、减速技术，保证了复杂样品的......
TESCAN MIRA 场发射扫描电镜给用户带来了最新的技术优点（如改进的高性能电子设备使成像过程更快，快速扫描系统包括了动态与静态图像扭曲补偿，有内置的编程软件等），同时保持着最高的性价比。MIRA 的设计适用于各种各样的SEM应用及当今研究和产业的需求。大电子束流下的高分辨率有利于分析应用，例如：EBSD、WDX等分析。现代电子光路高亮度肖特基电子枪可获......
TESCAN MAGNA 新一代超高分辨场发射扫描电镜 TESCAN MAGNA 是一款功能极其强大的分析仪器，适用于纳米材料的形貌表征以及微观分析。TESCAN MAGNA 配置 Triglav™ 型 SEM 镜筒，具有超高的分辨率，在低电压下尤为明显；镜筒内探测器系统具有电子信号过滤能力，可以获得更好的图像衬度和表......
SEM高温疲劳试验机是带扫描电子显微镜的疲劳试验机。用于在疲劳试验过程中动态时实观测样品表面的微观破坏。可进行拉-拉、拉-压、三点弯曲疲劳试验及800℃以下的高温试验。 特 点：· 电子显微镜SEM与试验机采用一体化结构，具有高防振效果。· 可以在利用SEM观察的同时，进行裂纹扩展观察试验。· 可以在常温～800℃温度范围内，重复向样品......