白光干涉测厚仪厂家报价
Xper WLI 白光干涉仪 Xper WLI 白光干涉仪Xper WLI 是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量......
很多用户担心光学仪器操作复杂、环境要求苛刻。事实上，现代白光干涉仪通过高度自动化设计，已经将操作门槛降低。中图仪器白光干涉3D轮廓仪厂家致力于为您提供极简、安全的使用体验：1.操作流程标准化：仅需5个关键步骤（定位、环境监测、扫描、处理、分析），即可完成从样品放置到参数提取的全过程。2.双重防撞保护：担心操作失误损坏昂贵的镜头？设备配备了ZSTOP软件限位和......
SuperViewW白光干涉测量膜厚仪器3D重建算法自动滤除样品表面噪点，在硬件系统的配合下，测量精度可达亚纳米级别。它以光学干涉原理为基础，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量产品功能1)样件......
在微纳测量领域，精度就是生命线。SuperView W1系列白光干涉光学轮廓仪厂家，以白光干涉技术为核心，各项指标均达到行业水平。1.重复性：粗糙度RMS重复性可达 0.005nm（依据ISO 25178标准，测量Sa为0.2nm硅晶片）。2.台阶测量精度：准确度达 0.3%，重复性 0.08% (1σ)。3.超高分辨率：Z向扫描范围10mm，形貌重复性ST......
