白光干涉测厚仪的小知识
Xper WLI 白光干涉仪 Xper WLI 白光干涉仪Xper WLI 是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量......
CIC-D100离子色谱青岛盛瀚 仪器维护小知识针对不同使用环境，有着不同的操作与维护流程，点击查看操作维修手册。 CIC-D100离子色谱仪作为盛瀚一款经典产品，一直广受好评，基于用户最新需求，定位于常规检测的全新一代CIC-D100焕然新生。新升级的CIC-D100，可以方便地测试不同基体样品中的阴离子、阳离子及其他极性物质，同时分离相差4......
SuperViewW白光干涉测量膜厚仪器3D重建算法自动滤除样品表面噪点，在硬件系统的配合下，测量精度可达亚纳米级别。它以光学干涉原理为基础，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量产品功能1)样件......
厂商新闻
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