白光干涉共聚焦显微原理

  开拓了激光显微镜的界限。   -总是值得信赖的影像和测量-   激光扫描显微镜的优势   非接触式、无损、快速成像和测量   ○ 非接触式、无损测量   激光扫描显微镜(LSM)采用低功率激光,不接触样品。因此,不像基于探针系统的接触式表面粗糙度测量仪那样存在损坏样品的风险。   ○ 无需前期准备即可......

仪器简介:雷尼绍公司于1992年推出RM系列激光显微拉曼光谱仪开始,在拉曼光谱领域开拓了一个新纪元。通过对产品各部件的革新,推出了配置更加灵活、使用更加简单、自动化程度更高的inVia系列激光显微拉曼光谱仪。目前,inVia已成为全球最畅销的高性能显微拉曼光谱仪。雷尼绍激光拉曼光谱仪运用雷尼绍在精密机械制造和创新工程方面的丰富经验设计而成,经久耐用,可升级、......

全新inVia Qontor是雷尼绍最先进的显微拉曼光谱仪。它以市场领先的inVia Reflex为基础,在inVia公认的性能和易用性方面又有了新的突破。全新inVia™ Qontor®共焦显微拉曼光谱仪全新inVia Qontor是雷尼绍zei先进的显微拉曼光谱仪。inVia Qontor引入了雷尼绍新的创新技术 — LiveTrack™实时聚焦追踪技术......

inVia™ Qontor® 共焦显微雷尼绍 共焦显微

参考成交价格: 200~300万元[人民币]

雷尼绍 拉曼光谱仪

型号:inVia™ Qontor®

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点击查看下载inVia™ Qontor® 共焦显微雷尼绍 共焦显微相关资料,进一步了解产品。 inVia Qontor共焦显微拉曼光谱仪是一款灵活的研究级仪器,具有独特的实时聚焦追踪功能。inVia Qontor不仅保留了雷尼绍全球驰名的inVia Reflex™显微光谱仪的全部功能,还新增了多种实用功能,其中包括功能强大的LiveTrack™实时聚焦追踪技......

中图仪器VT6000白光共聚焦测量显微镜以尼普科夫转盘共聚焦光学系统为测量原理,结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数。它可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮......

中图仪器VT6000系列白光干涉共聚焦显微镜光源采用白光LED,以转盘共聚焦光学系统为基础,结合高稳定性结构设计和3D重建算法,共同组成测量系统,保证仪器的高测量精度。VT6000系列白光干涉共聚焦显微镜一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测,可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。仪器的隔震设计能够消减底面振动噪声,仪器在部分环境中稳定可靠,具有良好的测量重......

中图仪器VT6000系列白光干涉共聚焦显微镜光源采用白光LED,以转盘共聚焦光学系统为基础,结合高稳定性结构设计和3D重建算法,共同组成测量系统,保证仪器的高测量精度。VT6000系列白光干涉共聚焦显微镜一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测,可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。仪器的隔震设计能够消减底面振动噪声,仪器在部分环境中稳定可靠,具有良好的测量重......

▶仪器介绍 白光干涉薄膜厚度测量仪利用薄膜干涉光学原理,对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光 源照射薄膜表面,探头同位接收反射光线。根据反射回来的干涉光,用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范 围1nm-3mm,  可同时完成多层膜厚的测试。▶工 作 原&......

VT6000国产白光共聚焦显微镜用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。它以共聚焦技术为原理结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器......

SuperView WT3000系列白光干涉共聚焦轮廓仪   SuperView WT3000系列白光干涉共聚焦轮廓仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它集成了白光干涉仪和共聚焦显微镜两种高精度3D测量仪器的性能特点于一身,能够对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像。当测量超光滑和透明的表面形貌时,可使用白光......

厂商新闻
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