dls 粒度仪
主要特点：颗粒尺寸测量：前所未有的分辨率由于固件采用了非常先进的算法，因此可以精确测量单一悬浮液中几种不同的颗粒尺寸。可自动测量连续的透射比通过透光率，您可以立即获得样品反馈并自动优化测量参数（角度、聚焦位置和测量持续时间）。 简单智能的软件 - Kalliope™Kalliope™ 提供一页式工作流，输入参数、测量和分析唾手可得。此外，Kalli......
Colloid Metrix NANO-flex II纳米粒度分析仪-180°（DLS）
参考成交价格： 暂无
Colloid Metrix（CMX） 激光粒度仪、纳米粒度仪
型号：NANO-flex II
德国Colloid Metrix公司是一家专业研发和制造表征交替特征的仪器公司。在胶体配方分析方面， CMX公司的Stabino，Zeta-check和Nano-Flex为用户提供了全新的流动/Zeta电位和粒度的测量方法，同时Stabino配合Nano-Flex还提供多种滴定功能，可以实现不同PH值, 不同浓度的盐溶液以及聚电解质的溶液体系中颗粒的大小和Z......
Colloid Metrix NANO-flex II纳米粒度分析仪-180°（DLS） 不同PH值
参考成交价格： 暂无
Colloid Metrix（CMX） 激光粒度仪、纳米粒度仪
型号：NANO-flex II
180°DLS的测量原理激光通过光纤和蓝宝石窗口聚集在样品上。窗口会反射部分入散光。激光的反射光和散射光在检测器上被测量。信号的波动部分是由于颗粒的布朗扩散所致。通过快速的傅里叶变换算法转换为能谱，并同激光自身的频率做对比。无需假设任何的分布模型，粒径分布直接从能谱数据中计算而来。180°DLS的应用具备DLS方法的NANO-flex II几乎是无......
Colloid Metrix NANO-flex II纳米粒度分析仪-180°（DLS） 不同浓度的盐溶液
参考成交价格： 暂无
Colloid Metrix（CMX） 激光粒度仪、纳米粒度仪
型号：NANO-flex II
产品参数测量原理180°动态光散射和异相多普勒技术粒径范围0.3nm-10μm在线功能√ul pH范围1-14样品浓度＜40 vol%样品体积最小 40 ul分子量√测量尺寸180*300*260德国Colloid Metrix公司是一家专业研发和制造表征交替特征的仪器公司。在胶体配方分析方面， CMX公司的Stabino，Zeta-check和Nano-F......
Colloid Metrix NANO-flex II纳米粒度分析仪-180°（DLS） Zeta电位的变化
参考成交价格： 暂无
Colloid Metrix（CMX） 激光粒度仪、纳米粒度仪
型号：NANO-flex II
180°DLS的特点• 光路可以测量（＜0.3μm），意味着无多重散射的干扰；即使不透明的样品仍然可以测定• 样品浓度可达40%v/v• 粒径测试结果不会因为浓度的改变而改变• 在同一测试中，具备高动态范围和高分辨率• 可以实现原位测试，无需稀释180°DLS的测量原理激光通过光纤和蓝宝石窗口聚集在样品上。窗口会反射部分入散光。激光的反射光和散射光在检测器上......
NANO-flex IIColloid Metrix 纳米粒度分析仪-180°（DLS）激光粒度仪 可检测粉体悬浮液
参考成交价格： 暂无
Colloid Metrix（CMX） 激光粒度仪、纳米粒度仪
型号：NANO-flex II
Colloid Metrix（CMX）激光粒度仪NANO-flex II适用于等电点测定项目，参考多项行业标准。可以检测粉体悬浮液等样品。可应用于涂料行业领域。 在悬浮液的等电点（IEP）处，颗粒的离子界面电荷为零，发生凝聚，溶解度为零，没有质子化或去质子化，也没有解离发生。在许多应用中，测定等电点（IEP）是很重要的，其中之一就是生产具有等电点的颗粒，来生......
NANO-flex IIColloid Metrix 纳米粒度分析仪-180°（DLS）激光粒度仪 适用于等电点测定
参考成交价格： 暂无
Colloid Metrix（CMX） 激光粒度仪、纳米粒度仪
型号：NANO-flex II
Colloid Metrix（CMX）激光粒度仪NANO-flex II适用于等电点测定项目，参考多项行业标准。可以检测粉体悬浮液等样品。可应用于涂料行业领域。 在悬浮液的等电点（IEP）处，颗粒的离子界面电荷为零，发生凝聚，溶解度为零，没有质子化或去质子化，也没有解离发生。在许多应用中，测定等电点（IEP）是很重要的，其中之一就是生产具有等电点的颗粒，来生......
Colloid Metrix 纳米粒度分析仪-180°（DLS）激光粒度仪NANO-flex II 应用于涂料
参考成交价格： 暂无
Colloid Metrix（CMX） 激光粒度仪、纳米粒度仪
型号：NANO-flex II
Colloid Metrix（CMX）Colloid Metrix 纳米粒度分析仪-180°（DLS）NANO-flex II可以用在涂料行业领域，用来检测粉体悬浮液，可完成等电点测定项目。符合多项行业标准。 在悬浮液的等电点（IEP）处，颗粒的离子界面电荷为零，发生凝聚，溶解度为零，没有质子化或去质子化，也没有解离发生。在许多应用中，测定等电点（IEP）......
点击查看下载激光粒度仪Litesizer 500 纳米粒度及Zeta 电位分析仪 动态光散射DLS测量胶束粒径中: 粘度的重要性相关资料，进一步了解产品。 DLS测量中用到斯托克-爱因斯坦方程，动态粘度是此方程的一个参数。对一些样品来说，采用溶剂的动态粘度来进行计算是可接受的，但当颗粒对悬浮液的粘度影响很大时，采用溶剂的粘度就会对DLS结果造成相当大的偏差。......
点击查看下载激光粒度仪 纳米粒度及Zeta 电位分析仪Litesizer 500 不同低聚糖铁纳米颗粒的DLS、ELS和SAXS表征相关资料，进一步了解产品。 DLS和SAXS是高度互补的颗粒分析技术，能够分别表征颗粒的粒径分布及颗粒形状、核-壳结构等信息。此外，可以通过ELS技术测量颗粒的表面电荷，从而得到有关胶体稳定性的有关数据。此报告通过表征用于静脉治......