背散射 样品
使用 Thermo Scientific™ QUASOR™ 电子背散射衍射同时轻松获得 EBSD 数据和 EDS/WDS 全谱图像。 QUASOR 电子背散射衍射用于表征晶体结构特征，该特征决定了扫描电子显微镜 (SEM) 和 X-射线微区分析所分析的多种材料的物理性质。作为 Thermo Scientific™ NORAN™ 7 系统平台的全面集......
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QUANTAX EBSD 系统加上广受欢迎的 OPTIMUS TKD 探测器，是分析 SEM 中纳米材料的理想化解决方案。原因如下：提供 1.5 nm 的空间分辨率在不影响速度和/或数据质量的情况下以低测试电流进行测试在使用浸入式透镜模式的超高分辨 SEM 下工作的仅有的 TKD 解决方案全自动内置 ARGUS 成像系统......
QUANTAX ED-XS 是一款为紧凑型电镜设计的EBSD-EDS系统：可搭配在紧凑型SEM和台式扫描电镜用户可自行更换探头经济实惠的服务合同选项可实现EBSD和EDS数据同步采集易于使用的 EBSD：无需校准并且用户可自行更换磷屏安全操作：不使用时，e-Flash XS 与SEM 仓室内的其它仪器发生意外碰撞的可能性为0%......
背散射 X射线管TUB00205/2 (140kv 7W)光管是背散射成像和传统透射成像理想的射线源。TUB00205/2能够在140kV(*大)下运行，其体积小、重量轻，可以封装到客户外壳中. 型号 TUB00205 TUB00202 出束口形状 Fan Cone ......
安捷伦提供一系列盲法质量控制标准品，用于检验您的分析系统是否处于受控状态。 这些质量控制样品旨在模拟特定 EPA 方法的实际样品，并作为盲样运行。然后将使用该方法生成的分析数据与安捷伦标准品提供的真实值进行比较。如果用作盲样的质量控制标准品所生成的数据与标准品的真实值一致，则表明您的分析系统处于受控状态。 ......
安捷伦提供一系列盲法质量控制标准品，用于检验您的分析系统是否处于受控状态。 这些质量控制样品旨在模拟特定 EPA 方法的实际样品，并作为盲样运行。然后将使用该方法生成的分析数据与安捷伦标准品提供的真实值进行比较。如果用作盲样的质量控制标准品所生成的数据与标准品的真实值一致，则表明您的分析系统处于受控状态。 ......
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QUANTAX EBSD是用于扫描电子显微镜（SEM）的整套分析解决方案，包括一个EBSD硬件和ESPRIT软件。QUANTAX EBSD具有全系列探测器选项，包括全新的革命性的eWARP探测器，具有高灵敏度的高速EBSD探测器。eWARP从EBSD的第一性原理出发，设计的像素点是有史以来第一个由像素化传感器供电的探测器，该传感器从零开始设计时就考虑到了EB......