zeta电位测试样品用量
主要特点：颗粒尺寸测量：前所未有的分辨率由于固件采用了非常先进的算法，因此可以精确测量单一悬浮液中几种不同的颗粒尺寸。可自动测量连续的透射比通过透光率，您可以立即获得样品反馈并自动优化测量参数（角度、聚焦位置和测量持续时间）。 简单智能的软件 - Kalliope™Kalliope™ 提供一页式工作流，输入参数、测量和分析唾手可得。此外，Kalli......
在表面分析中，固体表面 Zeta电位分析仪SurPASS 3基于流动电势和流动电流测量法，从而研究宏观固体表面 Zeta电位。 它可以提供有关表面电荷和相关性质的信息，并可检测表面性质中zei微小的变化。Zeta电位：范围：所用测量原理决定没有限制再现性：+/-0.5 mV等电点：再现性：+/-0.1 pH平板固体：zei小 35 mm x 15 mm，厚度......
仪器简介： 仪器名称：ZETA电位分析仪 研究对象：纤维、薄膜、粉末、粒子、固体金属或非金属片等材料。 主要用途：测量材料的表面电荷，了解材料表面上的电荷状况，研究材料表面性能。 主要应用：材料表面改性 材......
zeta 电位测量——新型尖端技术Litesizer™ 500 采用新型专利（欧洲专利 2 735 870）PALS 技术 cmPALS，可实现更短的测量时间以及更低的施加电场。结果：敏感样品可在劣化较轻的情况下进行测量。Zeta 电位试管具有独特的 Ω 形毛细管。这种形状意味着电泳光散射 (ELS) 测量可不受测量位置影响，且具有高稳定性和可重复性。&nb......
在表面分析中，固体表面 Zeta电位分析仪SurPASS 3基于流动电势和流动电流测量法，从而研究宏观固体表面 Zeta电位。 它可以提供有关表面电荷和相关性质的信息，并可检测表面性质中zei微小的变化。Zeta电位：范围：所用测量原理决定没有限制再现性：+/-0.5 mV等电点：再现性：+/-0.1 pH平板固体：zei小 35 mm x 15 mm，厚度......
仪器简介：通过使用stabino II，可实现快速便捷的颗粒的电位滴定测试。在分散体系中，同性带电离子的静电排斥作用是分散体避免凝聚保持稳定的主要原因，故带电粒子界面的表征是必不可少的。当颗粒离子化后，总电荷和电荷密度是需要知道的重要参数。电荷测量是通过建立动电信号来完成的。根据不同的测量原理，有电泳法，电声法zeta电位，以及stabino测试所得的流动电......
纳米粒度测量——先进的动态光背散射技术Zeta电位测量：Microtrac MRB以其在激光衍射/散射技术和颗粒表征方面的独到见解，经过多年的市场调研和潜心研究，开发出新一代NANOTRAC WAVE II微电场分析技术，融纳米颗粒粒度分布与Zeta电位测量于一体，无需传统的比色皿，一次进样即可得到准确的粒度分布和Zeta电位分析数据。与传统的Zeta电位分......
德国Colloid Metrix公司是一家专业研发和制造表征交替特征的仪器公司。在胶体配方分析方面， CMX公司的Stabino，Zeta-check和Nano-Flex为用户提供了全新的流动/Zeta电位和粒度的测量方法，同时Stabino配合Nano-Flex还提供多种滴定功能，可以实现不同PH值, 不同浓度的盐溶液以及聚电解质的溶液体系中颗粒的大小和Z......
仪器简介：可实现快速便捷的颗粒的电位滴定测试。在分散体系中，同性带电离子的静电排斥作用是分散体避免凝聚保持稳定的主要原因，故带电粒子界面的表征是必不可少的。当颗粒离子化后，总电荷和电荷密度是需要知道的重要参数。电荷测量是通过建立动电信号来完成的。根据不同的测量原理，有电泳法，电声法Zeta电位，以及STABINO测试所得的流动电位。这些是经常被提到的电位参数......
产品介绍BeNano Zeta 电位分析仪是丹东百特仪器公司开发的测量颗粒体系 Zeta 电位的光学检测系统。BeNano Zeta 系统基于电泳光散射原理，样品分散在样品池中，在样品池两端施加一个电场，通过激光照射到电场中的样品上，光电检测器在 12°角检测样品颗粒电泳运动造成的散射光的多普勒频移，进而得到体系的 Zeta 电位信息。基本性能指......