粗糙度仪显微镜
帕克 NX-Wafer 原子力显微镜 光滑材料表面粗糙度测量
参考成交价格： 500~1000万元[人民币]
Park原子力显微镜 扫描探针显微镜/SPM（原子力显微镜）
型号：Park NX-Wafer
产品介绍? 自动化工业级原子力显微镜，带来线上晶片检查和测量 Park Systems推出业内噪声最低的全自动化工业级原子力显微镜——XE-Wafer。该自动化原子力显微镜系统旨在为全天候生产线上的亚米级晶体（尺寸200 mm和300 mm）提供线上高分辨率表面粗糙度、沟槽宽度、深度和角度测量。借助True Non-Conta......
* 应用 侧壁和侧凹高分辨率成像 侧壁和侧凹临界尺寸(CD)测量NX-3DM的倾斜式Z轴扫描器设计让探针能够扫描到光刻胶的侧壁和侧凹结构。· 独有的XY轴和Z轴解耦扫描系统和倾斜式Z轴扫描器· Z轴扫......
Automatic Defect Review for Media and SubstratesHigher Throughput, Automatic Defect ReviewNX-HDM的自动缺陷检查功能(Park ADR)可加速和改良媒介和基体缺陷的识别、扫描和分析流程。借助光学检查工具所提供的缺陷位置图，Park ADR可自动定位这些位置并进行成像......
帕克 NX-TSH 自动化原子力显微镜系统 表面粗糙度测量
参考成交价格： 1000~1500万元[人民币]
Park原子力显微镜 扫描探针显微镜/SPM（原子力显微镜）
型号：Park NX-TSH
专为OLED面板行业整片测量，LCD测量提供的全自动探针扫描器解决方案专为新一代显示器工厂的应用需求研发设计Park原子力显微镜公司已经扩展了原子力显微镜设备的测量尺寸，Park NX-TSH（龙门架设计平板式探针扫描器）可针对第八代及大于第八代的所有大型平板显示器进行测量。专为新一代显示器工厂的应用需求研发设计，最大样品尺寸可以测2200 mm。硅片直径的......
高质量的印刷取决于纸张的表面质量状况。要获得均匀的油墨覆盖就必须要有均一的纸张表面，要求对纸张的表面粗糙度和透气度进行精确的测量和控制。PROFILE/Plus Automated Porosity 可对纸张的表面透气度进行精确和快速的测量，并符合标准。快速精确的测量结果PROFILE/Plus Roughness 独特的结构，确保了测量......
帕克 NX-Wafer 原子力显微镜Park原子力显微镜Park NX-Wafer 适用于表面粗糙度测量
参考成交价格： 500~1000万元[人民币]
Park原子力显微镜 扫描探针显微镜/SPM（原子力显微镜）
型号：Park NX-Wafer
Park原子力显微镜帕克 NX-Wafer 原子力显微镜Park NX-Wafer可以用在纳米材料行业领域，用来检测半导体，可完成表面粗糙度测量项目。符合多项行业标准。 超高精度和最小化探针针尖变量的亚埃级表面粗糙度测量 晶圆厂唯一具有自动缺陷检测的原子力显微镜用于高吞吐量CMP轮廓测量的高精确低噪声原子力轮廓仪Park NX-Wafer是业界领先的半......