北京射线辐射检测仪

x射线衍射仪是一种常用的检测仪器,利用波长很短的电磁波能穿透一定厚度的物质,并能使荧光物质发光、照相机乳胶感光、气体电离,测定物质的晶体结构,织构及应力,的进行物相分析,定性分析,定量分析。X射线光源的数字控制XD6型多晶X射线衍射仪用于晶体物质结构定性定量分析。该产品在XD3基础上设计,测角仪扫描半径连续可调。该功能使得用户可以在仪器测角分辨率和测试衍射线......

产品说明、技术参数及配置EDX3200S-PLUS(食品重金属快速检测仪)属于江苏天瑞仪器股份有限公司自主研发的产品,设备采用了能量色散X射线荧光光谱(EDXRF)技术实现食品中微量重金属有害元素的快速检测,设备采用了zei先进的探测器和激发源等硬件配置。用 大功率的X射线照射样品,样品可以被激发出各种元素能量的特征荧光X射线,不同元素的特征能量各不相同,......

EDX 3200S-PLUS (食品重金属快速检测仪)属于江苏天瑞仪器股份有限公司自主研发的产品,设备采用了能量色散X射线荧光光谱(EDXRF)技术实现食品中微量重金属有害元素的快速检测,设备采用了zei先进的探测器和激发源等硬件配置。用大功率的X射线照射样品,样品可以被激发出各种元素能量的特征荧光X射线,不同元素的特征能量各不相同,通过半导体探测器分别测量......

根据色散方式不同,X射线荧光分析仪相应分为X射线荧光光谱仪(波长色散)和X射线荧光能谱仪(能量色散)。荧光分析X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法,又称X射线次级发射光谱分析,是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生次级的特征X射线(X光荧光)而进行物质成分分析和化学态研究。EDX 3200S-PLUS (食品重金......

用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。EDX 3200S-PLUS (食品重金属快速检测仪)属于江苏天瑞仪器股份有限公司自主研发的产品,设备采用了能量色散X射线荧光光谱(EDXRF)技术实现食品中微量重......

X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度,可以 测定元素含量。近年来,X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展,已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域,特别是在RoHS检测领域应用得最多也最广泛。大多数分析元素均可用其进行分析,可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品,分析范围为Be到U。并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。......

XRF—般指X射线荧光光谱分析,利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。按激发、色散和探测方法的不同,分为X射线光谱法(波长色散)和X射线能谱法(能量色散)。EDX 3200S-PLUS (食品重金属快速检测仪)属于江苏天瑞仪器股份有限公司自主研发的产品,设备采用了能量色散X射线荧......

它的能量是特征的,与入射辐射的能量无关。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收,而是以辐射形式放出,便产生X射线荧光,其能量等于两能级之间的能量差。因此,X射线荧光的能量或波长是特征性的,与元素有一一对应的关系。 K层电子被逐出后,其空穴可以被外层中 任一电子所填充,从而可产生一系列的谱线,称为K系谱线:由L层跃迁到K层辐射的X射线叫Kα射线......

FH 40TG长杆辐射测量仪,可选配不同的探测器,满足不同领域的需求,可以更好的保护操作者的安全。? - 可使用多种不同的探测器 ? - 同时监测操作者剂量和剂量率 ? - 模块化设计,可快速更换各部件 ? - 长杆使用高强度玻璃纤维长杆材料 ? - 配有平衡杆,方便长时间工作 ? - 可延长至4m ......

仪器简介:RM2050型αβγX射线辐射检测仪是用于测量α、β辐射表面污染和γ、X射线剂量率的智能化检测仪器,采用进口探测器,能同时测量α、β、γ、X射线。该仪器采用单片机设计,图文式液晶显示,操作简便,广泛应用于环境监测、卫生防疫、无损检测、核......