优秀的白光干涉测厚仪
Xper WLI 白光干涉仪 Xper WLI 白光干涉仪Xper WLI 是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量......
反射测量：反射测量方式分为镜面反射和漫反射测量，在实际测量中，可以采用不同的参考白板和测量角度来进行区分。反射测量用于测定样品的化学成分及表面颜色相关信息。仪器简介特性 90量子化率 USB 2.0 接口 低电子噪声 光学分辨率可达到 ~0.035 nm FWHM；分辨率取决于光栅的刻数和狭缝的大小 14种光栅选择，包括HC-1 复合光栅......
SuperViewW白光干涉测量膜厚仪器3D重建算法自动滤除样品表面噪点，在硬件系统的配合下，测量精度可达亚纳米级别。它以光学干涉原理为基础，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量产品功能1)样件......
厂商新闻
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解决方案
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