帕纳科 zetium 参数
Insitec系统具有在线连续粒度分析的功能，可进行高效且具成本效益的工业工艺监控。 其适用的工艺流范围广泛，从干粉到温度又高又粘的浆料，再到喷雾及乳剂，无论每小时处理的材料量是几毫克还是几百吨，该系统均能得心应手。 Insitec系统的测量粒度范围是0.1 μm至2500 μm。Insitec系列仪器坚固的结构以及其运用的激光衍射技术，迎合了工艺过......
在许多应用中，气雾和喷雾颗粒的大小是确定产品性能的核心，包括人类呼吸系统的药物输送以及涂料，燃油喷射和农业化学品方面的应用。许多特殊环境或高速喷雾，给测量带来挑战。马尔文帕纳科Spraytec喷雾粒度分析仪专为满足这些挑战而设计，以实现对喷雾粒度进行常规可靠的分析。马尔文帕纳科Spraytec喷雾粒度分析仪可对喷雾剂颗粒及喷雾滴液粒度分布进行实时测量，使喷雾......
X 射线荧光光谱 (XRF) 能够对多种材料进行元素分析，包括固体、液体和疏松粉末。 Zetium 光谱仪专为满足要求严苛的流程控制和研发应用需求而设计，其高品质的设计和功能，可对从铍到镅等多种元素进行精度范围从百万分之一以下到百分之一的分析。Zetium 包含了 SumXcore 技术，它是 WDXRF 和 EDXRF&nbs......
Aeris X 射线台式衍射仪将给您留下深刻印象，数据质量和数据采集速度目前只有在大功率系统上才能实现。 这个小巧的仪器结合了简单的测量与一步样品装载装置，以及一个直观简洁的用户界面，通过其内置触摸屏和直观软件，用户可以无障碍地使用这款仪器。您可以享受这个流畅的过程 – 从样品装载到结果输出，只需一个按钮操作。 Aeris 专为低拥有成本而设计，可根据......
FORJ“火蝾”熔样机——源自Claisse专业熔融技术高精度元素分析强有力的保证FORJ 熔样机拥有高水平的稳健性，旨在提供出色的生产力和可靠的结果，它是改变熔融法样品制备的变革者。不管您是采用 X 射线荧光法 (XRF)、电感耦合等离子体法 (ICP) 还是原子吸收法 (AA) 进行分析，FORJ 都是您的分析过程中的一个关键环节。机器稳健可靠高处理量可......
工业化设计技术成熟的在线粒度仪可在苛刻工业环境中使用的Insitec干式颗粒粒度分析仪，采用激光衍射技术测量0.1 µm至2500 µm的颗粒粒度。 Insitec干式分析仪通过选件进行配置，适合各种实际的干式颗粒工艺，提供24小时实时监测与控制，可用于：粉尘区域危险环境气体或粉尘区域危险环境移动式应用研磨材料制药工艺概述Insitec干法在线粒度仪提供全自......
工业化设计技术成熟的在线粒度仪可在苛刻工业环境中使用的Insitec湿式颗粒粒度分析仪，采用激光衍射技术测量乳剂、悬浮剂及浆液中0.1 µm至2500 µm的颗粒粒度。 Insitec湿式分析仪通过选件进行配置，适合各种实际的湿式颗粒工艺，提供24小时实时监测与控制，可用于：气体或粉尘区域危险环境全自动浓度控制制药工艺自定义配置合作解决方案概述Insitec......
喷雾剂颗粒与喷雾滴液粒度测量在许多应用中，气雾和喷雾颗粒的大小是确定产品性能的核心，包括人类呼吸系统的药物输送以及涂料，燃油喷射和农业化学品方面的应用。许多特殊环境或高速喷雾，给测量带来挑战。马尔文帕纳科Spraytec喷雾粒度分析仪专为满足这些挑战而设计，以实现对喷雾粒度进行常规可靠的分析。马尔文帕纳科Spraytec喷雾粒度分析仪可对喷雾剂颗粒及喷雾滴液......
DDCOM 用于超快速晶体取向测量用于晶体取向测量的台式 X射线衍射仪 (DDCOM) 是一种用于自动测定各种晶体取向的工具。超快速扫描方法速度是Theta扫描方法的 200 倍以3D形式自动评估完整晶格取向在10秒内测定整个晶体取向高效的质量控制工作流程用于标准研究和工业工作流程晶体取向的方位设置和标记预编程的立方晶体参数先进便捷的软件精度高，可......
用于晶体取向测量的 SDCOM 小型衍射仪用于单晶（晶锭和晶圆）的材料研究、生产和质量控制的台式XRD设备。Si | SiC | 金刚石 | AIN | GaAs | 石英 | LiNbO₃ | bbo | GaN 和其他一百多种材料。SDCOM的特点超快速测量：样品旋转一次（即10秒内）即可捕获所有所需的晶体取向参数多种样品尺寸：可测量直径从1mm到200......