镀层厚度的测定.显微镜法
主要特点全景成像模式：将所有传感器进行同步，轻松快速地分析涂层结合力和耐划伤性能安东帕持有美国专利 8261600 和欧洲专利 2065695。全景模式是划痕仪软件zei重要的特征。划痕后，您可以选择用选配的自动同步的传感器：声发射、位移、载荷和摩擦力传感器来记录全景。当采用全景成像模式记录时，可以随时重新分析划痕。粘弹性材料表征使用前扫描和多次后扫描测量专......
XRF仪器的工作原理是通过将样品辐射X射线，使其原子激发并产生荧光，再通过荧光信号的能量和强度来分析样品中元素的种类和含量。它具有操作简便、无需样品前处理、分析速度快、精度高等优点，能够满足复杂物质分析的需求。天瑞仪器在累计万台以上的能量色散型X射线荧光分析装置的业绩基础上，十年磨一剑，开发出将多种需求高水平融于一体的X荧光分析装置—EDX3800。c仪器在......
根据量子理论，X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流，每个光具有的能量。因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。产品说明、技术参数及配置针对EDX 1800B在各个领域的广泛应用，根据优化产品性能和提高安全防护等级的需求，......
荧光强度：对于X荧光光谱仪来说，各元素含量与该元素的荧光强度成正比关系；荧光强度越高，则统计误差越小，测量的准确度越高，仪器性能越好。 仪器介绍 针对EDX1800在各个领域的广泛应用，根据优化产品性能和提高安全防护等级的需求，特别设计该款EDX1800B。应用新一代的高压电源和X光管，提高产品的可靠性;利用新X光管的大功率提高仪器的测试效率......
在有些情况，如：印刷线路板上的IC导线，接触针及导体的零件等测量要求较高 ,一般而言，测量镀膜厚度基本上需符合下述的要求：1.不破坏的测量下具高精密度。2.极小的测定面积。3.中间镀膜及素材的成份对测量值不产生影响。4.同时且互不干扰的测量上层及中间镀膜 。5.同时测量双合金的镀膜厚及成份。而X-射线荧光法就可在不受素材及不同中间膜的影响下得到高精密度的测量......
安捷伦Agilent 紫外-可见-近红外分光光度计Cary 5000可以用在航空/航天行业领域，用来检测样品（抗反射涂层、玻璃、建筑玻璃、油漆/涂层） ，可完成反射率,表征镜面,薄膜的折光率,厚度项目。符合多项行业标准。 Cary VASRA 具有自动测量入射光角度在 20 到 70 度范围内样品表面镜面反射率的能力。可方便地安装在 Cary 4000/5......
镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。ScopeX PILOT台式镀层测厚仪采用下照式设计，搭载先进的Muti-FP算法软件和微光聚集技术，以及高敏变焦测距装置，对不均匀、不规则，甚至微小件等形态的样品，都能够快速、精准、无损检测，可轻松应对......
iMLayer 基质蒸镀系统（气相沉积）负责样品前处理（施加基质），用于配合 iMScope 影像质谱显微镜或 MALDI-7090 等分析系统，开展 MALDI-MS 成像分析。该系统采用气相沉积法进行前处理，可实现高空间分辨率。通过此方法能够形成精细的基质结晶，并依托自动化控制，按照用户设定条件获得重现性优异的蒸镀层厚度。ItemApplicable m......