金属测量
技术指标载荷zei大载荷30 N分辨率6 μN本底噪音<100 [rms] [μN]*位移zei大位移1000 μm分辨率0.03 nm本底噪音<1.5 [rms] [nm]* 载荷框架刚度> 107 N/m国际标准ISO 14577, ASTM E2546, ISO 6507,ASTM E384*理想实验室条件下规定的......
于测量粉末的 Autotap 和 Dual Autotap 振实密度分析仪是易于使用的自动装置，符合多种国际公认的标准方法要求。它们通过用户可选择、可锁定的振实次数，提供高水平的测试方法控制。振动频率和振幅是固定的，以便提供一致的样品结果。不同尺寸的样品可以配合带刻度的不同尺寸的标准量筒进行测试。提供单站和......
在有些情况，如：印刷线路板上的IC导线，接触针及导体的零件等测量要求较高 ,一般而言，测量镀膜厚度基本上需符合下述的要求：1.不破坏的测量下具高精密度。2.极小的测定面积。3.中间镀膜及素材的成份对测量值不产生影响。4.同时且互不干扰的测量上层及中间镀膜 。5.同时测量双合金的镀膜厚及成份。而X-射线荧光法就可在不受素材及不同中间膜的影响下得到高精密度的测量......
地质漫反射谱库包含 260 种岩石和矿物的光谱图，可与采用漫反射采样接口的 4100 ExoScan 或 4200 FlexScan 配合使用。工业矿石漫反射谱库包含 130 种经济价值极高的矿石和矿物的光谱图，可与采用漫反射采样接口的 4100 ExoScan 或 4200 FlexScan 配合使用。 通过中红外光谱鉴定/分类共价键矿物，包......
具有常规易用性的研究级分析： 准确度和可重复性令人难以置信；亚ppt级常规分析方法开发简单（无论基质具有多大挑战）稳健、所需工程维护少，因而故障时间zei短干扰去除功能强大，即使在zei苛刻的基质中也能去除干扰Thermo Scientific系列台式微量元素分析仪器所提供的检出限zei低 体验研究级分析的益处、扩大实验室的应用组合，确保您的操作......
百欧林光学接触角测量仪(水滴角测量仪)Theta Flex可用于测定材料，适用于接触角项目。并且参考多项行业标准https://www.dksh-instrument.cn/Solution。可应用于涂料行业领域。 Theta Flex光学接触角测量仪Theta Flex是高端的光学接触角测量仪，具有所有测量功能。它可以实现全自动化并操作简单，使......
