Aztec X-Max 20 EDS
图标按操作流程顺序排列，操作简便通过对应谱图可简单确认元素重叠状况通过TruMap功能分离出谱峰重叠元素并准确显示(AZtecOne)* : 和TM4000Plus搭配应用实例* : 探测器内置型 (制造商：英国牛津仪器)特点AZtec系列有以下3种机型。简易: AZtecOneGO高性能: AZtecOne多功能分析: AZtec EnergyAZtecO......
探头面积：20mm2、50mm2、80mm2和150mm2（可选）分辨率：127eV产品特点具备高速能力， 灵敏度相当于传统10mm2 电制冷探头15 倍超大面积检测器，有四种型号可供选择分辨率可保证在127eV，不随面积增大而降低有效缩短能谱软件的分析时间实现高分辨率面扫描zei大限度保证能谱与电镜分析条件相一致性......
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM可用于测定Construction Materials，适用于Construction Materials项目。并且参考多项行业标准Oxford Instruments。可应用于地矿/有色金属行业领域。 机械及电学性能 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计，可提供卓越的立体角和......
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM用于测定Microstructure and Mechanical Properties，符合行业标准Oxford Instruments。适用Microstructure and Mechanical Properties项目。 添加剂生产 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设......
牛津仪器EDSX-Max TEM可以用在生物质材料行业领域，用来检测Microstructure and Mechanical Properties，可完成Microstructure and Mechanical Properties项目。符合多项行业标准Oxford Instruments。 添加剂生产 X-MaxN 80T用于TEM 的X-M......
牛津仪器硅漂移探测器X-Max TEM适用于Pollutant Particles项目，参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Pollutant Particles等样品。可应用于电子/半导体行业领域。 监测和过程控制 X-MaxN 80T用于TEM 的X-Max N系列SDD采用新型晶体、电子电路和封装技术，是一款真正的“......
点击查看下载赛默飞（原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 ......
Layerprobe 是SEM中用于薄膜分析的一个令人兴奋的软件工具。与专用的薄膜测量工具相比，AZtec EDS微观分析系统中的选配功能Layerprobe，速度更快、性价比更高、分辨率更高。SEM中的薄膜分析表征样品表面下的多层膜无损分析从2nm到2000nm的多层膜厚度和成分分析横向分辨率低至200nm使用只需简单设置，高性价比的SEM或FIB-SEM......
UltraDry EDS 检测器Thermo Scientific™ UltraDry EDS 检测器具备卓越的分辨率和不可思议的高采集率，可提供更快、更精确的 X-射线分析。产品概述Thermo Scientific™ UltraDry EDS 检测器可为金属、采矿、先进材料和半导体等行业提供更快、更精确的 X 射线分析，并且能为 Thermo Scien......
