便携式三维显微测量系统
安东帕MCR显微可视流变仪/流变-光学同步测量系统 MCR流变仪的光学测量控温平台，可以实现一平台多功能的目的，在一个光学控温平台上，可以进行显微可视、UV光固化、偏光成像、荧光显微、小角激光散射（SALS）、红外光谱联用、拉曼光谱联用等流变-光学同步测量功能，可以在进行流变测试的同时观察样品的微观结构、......
STELLARIS白光激光器在为多色实验选择荧光探针时，您无需做出妥协。 现在，您可以超越传统激发源，摆脱在荧光团选择和多元成像能力方面的限制。扩展多色能力。更少妥协。STELLARIS新一代白光激光器（WLL）与我们提供的Power HyD探测器系列中最佳匹配的探测器相结合，使您可自由选择所有光谱，并准确组合适当的探针来解答您的实验问题。 WLL与我们自有......
STELLARIS 8 FALCON（FAst Lifetime CONtrast，快速寿命对比）是功能成像的未来发展方向。 利用荧光寿命成像的强大性能来研究细胞生理学并探索活细胞动力学。 STELLARIS 8 FALCON 是一款完全整合的荧光寿命成像 (FLIM) 解决方案，以视频速率进行荧光寿命成像来研究活细胞的快速动力学。STELLARIS 8 F......
MicroTEQ-S1显微光谱测量系统，集成荧光、拉曼和反射光谱测量功能。通过把光谱模块集成到显微镜上，实现显微荧光、拉曼和其他光谱信息的测量。系统由光谱仪、激光器、光源、显微镜等部分构成，自由灵活，帮助用户快速对样品微观结构，微观光谱信息的测试和分析；此外系统可以加装二维电控扫描台，通过软件控制，实现光谱二维扫面测量功能。应用范围微流控；植物叶片研究；激光......
布鲁克工业CT SkyScan 2214可以用在珠宝行业领域，用来检测物体，可完成三维X射线显微成像项目。符合多项行业标准https://www.dksh-instrument.cn/Solution。 有！那就是布鲁克的三维X射线显微成像系统（3D XRM） • 金刚石窗口x射线源，焦斑尺寸<500nm• 创新的探测器模块化设计，可支持 4 个探测......
点击查看下载MCR显微可视/流变-光学同步测量系统流变仪 样本相关资料，进一步了解产品。 我们的使命 工作距离 (20X)20 mm数字光圈 (20X)0.42分辨力0.7 μm景深1.6 μm光源模式可选白光、偏光、荧光UV光固化测量模块 用于研究光固化或老化反应的UV测量模块可以对样品施加UV照射，可选......
中图仪器SuperViewW白光干涉三维形貌测量系统是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸......
SuperViewW1白光干涉三维表面测量系统以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。它集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。SuperViewW1白光干涉三维表面测量系统广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器......
WD4000晶圆三维显微形貌测量系统兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。它通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。WD4000晶圆三维显微形貌测量系统可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精......