nanotrac wave纳米粒度及zeta电位分析仪
纳米粒度测量——先进的动态光背散射技术Zeta电位测量：Microtrac MRB以其在激光衍射/散射技术和颗粒表征方面的独到见解，经过多年的市场调研和潜心研究，开发出新一代NANOTRAC WAVE II微电场分析技术，融纳米颗粒粒度分布与Zeta电位测量于一体，无需传统的比色皿，一次进样即可得到准确的粒度分布和Zeta电位分析数据。与传统的Zeta电位分......
测量原理：粒度测量：动态光背散射技术和全量程米氏理论处理Zeta电位测量：膜电极设计与“Y”型探头形成微电场测量电泳迁移率分子量测量：水力直径或德拜曲线光学系统：3mW780nm半导体固定位置激光器，通过梯度步进光纤直接照射样品，在固定位置用硅光二极管接受背散射光信号，无需校正光路软件系统：先进的FLEX软件提供强大的数据处理能力，包括图形，数据输出/输入，......
软件系统：先进的FLEX软件提供强大的数据处理能力，包括图形，数据输出/输入，个性化输出报告，及各种文字处理功能，如PDF格式输出, Internet共享数据，Microsoft Access格式（OLE）等。体积，数量，面积及光强分布，包括积分/微分百分比和其他分析统计数据。数据的完整性符合21 CFR PART 11安全要求，包括口令保护，电子签名和指定......
麦奇克纳米粒度及Zeta电位仪 Nanotrac wave II可用于测定墨，适用于动态光散射项目。并且参考多项行业标准https://www.dksh-instrument.cn/Solution/252。可应用于涂料行业领域。 打印和书写都会涉及到彩色材料或黑色材料的使用，通常这些材料包含在一定的介质中。种被使用的色素材料可以追溯到4000-5000年前......
麦奇克纳米粒度及Zeta电位仪 Nanotrac wave II可用于测定墨，适用于动态光散射项目。并且参考多项行业标准https://www.dksh-instrument.cn/Solution/252。可应用于涂料行业领域。 打印和书写都会涉及到彩色材料或黑色材料的使用，通常这些材料包含在一定的介质中。种被使用的色素材料可以追溯到4000-5000年前......
麦奇克纳米粒度及Zeta电位仪 Nanotrac wave II参考多项行业标准https://www.dksh-instrument.cn/Solution/252。完成墨的检测。可以用在涂料行业领域中的动态光散射项目。 打印和书写都会涉及到彩色材料或黑色材料的使用，通常这些材料包含在一定的介质中。种被使用的色素材料可以追溯到4000-5000年前的油烟。......
麦奇克激光粒度仪 Nanotrac wave II可用于测定油墨，适用于粒径、Zeta电位、图像分析项目。并且参考多项行业标准https://www.dksh-instrument.cn/Solution/263。可应用于涂料行业领域。 当表征某一特定过程种颗粒体系的特性时不仅需要考虑到多方面因素的影响还要考虑到最终的使用。表征颗粒体系时必须要包括但不仅仅局......
麦奇克激光粒度仪 Nanotrac wave II适用于粒径分布项目，参考多项行业标准https://www.dksh-instrument.cn/Solution。可以检测粉末等样品。可应用于煤炭行业领域。 本文采用Microtrac BLUEWAVE激光粒度仪测定GH1131高温合金样品粒径分布，寻找合适的分散及测试条件，保证测试的准确性和重现性。 纳米......
麦奇克纳米粒度及Zeta电位仪 Nanotrac wave II可以用在原料药/中间体行业领域，用来检测药品，可完成新药开发项目。符合多项行业标准。 外部环境：电源要求：90-240VAC，5A，50/60Hz环境要求：温度，10-35°C国际标准：符合ISO13321，ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008主要特点：• 采用先进的......
麦奇克激光粒度仪 Nanotrac wave II参考多项行业标准https://www.dksh-instrument.cn/Solution/453。完成导电聚合物的检测。可以用在新能源行业领域中的导电聚合物（CleviosTM PEDOT/TSS）的分散性评价项目。 纳米粒度测量——先进的动态光背散射技术Zeta电位测量：Microtrac MRB以......