日本电子株式会社2010年7月zei新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。传统的冷场发射技术稳定性差,亮度低,无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社zei新开发的冷场发射技术解决了这些问题,并把该技术加入到zei新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时,能量分辨率提高到0.3eV,极大......
JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射电子显微镜JEM-ARM200F标配了照明系统球差校正器,是一款原子分辨分析型透射电镜,拥有世界领先的STEM-HAADF像分辨率(78pm)。标配照明系统球差校正器,且zei大限度地升了装置的机械稳定性和电气稳定性,实现了世界领先的STEM-HAADF像分辨率 ......
产品特点:JEM-ARM200F标配了照明系统球差校正器,是一款原子分辨分析型透射电镜,拥有世界领先的STEM-HAADF像分辨率(78pm)。STEM-HAADF像的保证分辨率(78pm*1 )为世界之领先性能标配照明系统球差校正器,且zei大限度地提升了装置的机械稳定性和电气稳定性,实现了世界领先的STEM-HAADF像分辨率 (78pm*1、......
产品规格:分辨率扫描透射暗场像82pm(加速电压200kV、肖特基场发射电子枪)78pm(加速电压200kV、冷场发射电子枪)透射像(点分辨率)190pm(加速电压200kV)110pm(加速电压200kV、安装TEM球差校正器)倍率扫描透射像X200~X150,000,000透射像X50~X2,000,000电子枪电子枪肖特基场发射电子枪 冷场发射电子枪(......
日本电子株式会社2010年7月zei新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。传统的冷场发射技术稳定性差,亮度低,无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社zei新开发的冷场发射技术解决了这些问题,并把该技术加入到zei新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时,能量分辨率提高到0.3eV,极大......
在美国的第一台搭载冷场发射电子枪的JEM-ARM200F将安装在Florida State University’s Applied Superconductivity Center, housed in the National High Magnetic Field Laboratory. 其后美国的Brookheaven......
产品特点:实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率JEM-ARM300F配备了JEOL自主研发的球差校正器,zei高加速电压可达300kV,是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界zei高的STEM-HAADF像分辨率。STEM-HAADF像的保证分辨率达到了前所未有的63pm采用JEOL自主研发的球差校正器,扫描透射像(STEM像)的保证......
为了响应近来已成为主流的远程操作的需求,NEOARM的电镜室和操作室实行了分离式,主机使用了JEOL的新概念颜色—纯白色和JEOL银色,设计精炼时尚。主要特点: ◇ 球差校正器ASCOR(Advanced STEM Corrector)“NEOARM”配备的新型球差校正器ASCOR能够校正高阶像差(即6重像散,目前阻碍透射电镜分辨率进一步......
2020年02月14日,日本电子(JEOL Ltd.)总裁兼首席运营官Izumi Oi宣布发布全新原子分辨率分析电子显微镜JEM-ARM300F2(GRAND ARM™2)。■ 主要特点1 超高空间分辨率与能谱分析的组合优化。新开发的FHP2物镜极靴的特点如下:1)提高了能谱分析效率到两倍以上。2)低光学系数,低Cc系数和低Cs系数使得超高空间分辨......
产品简介专用扫描透射显微镜HD-2700,配备了与德国CEOS GmbH公司(总经理Max Haider先生)共同开发的球差校正仪,显著提高了扫描透射电子显微镜的性能,更适合高级纳米技术研究。由于球差校正系统校正了限制电子显微镜的性能的球差,使其与标准型号显微镜相比,分辨率提高了1.5倍,同时,探针电流提高了10倍。最近,该显微镜还配备了高分辨率镜头和冷场发......