扫描电迁移率粒径谱仪
仪器简介： 3936-SMPS (Scanning Mobility Particle Sizers) 是一种用来测量粒径在3～1000nm范围内的超细气溶胶颗粒的高科技产品。它采用一种静电分级器来测量颗粒物尺寸，并采用凝聚粒子计数器（CPC）来测定颗粒物的浓度。SMPS系统的主要优点有......
仪器简介：3936-SMPS (Scanning Mobility Particle Sizers) 是一种用来测量粒径在3～1000nm范围内的超细气溶胶颗粒的高科技产品。它采用一种静电分级器来测量颗粒物尺寸，并采用凝聚粒子计数器（CPC）来测定颗粒物的浓度。SMPS系统的主要优点有： 快速结果......
SEMS扫描电迁移率气溶胶粒谱仪 BMI的SEMS扫描电迁移率粒谱仪能提供快速粒径分布测量，是极好的能够产生单分散校准气溶胶的设备。 0.01µm～2µm粒径粒子筛选的zei佳选择 主要特点: 全自动、无人值守操作 粒径测量范围宽 快速CPC......
产品详情TSI 的扫描电迁移率粒径谱仪广泛用于测量空气中的颗粒尺寸分布的标准。这一系统也经常用来使悬浮在液体中的颗粒的颗粒尺寸的测量精度。美国国家标准与技术研究所（ NIST ）使用一个 TSI DMA 尺寸为 60 nm 和 100 nm 的标准尺寸的参考材料。扫描电迁移率粒径谱仪是一个精确地粒径检测技术，没有假设颗粒的......
产品介绍SMPS+E扫描电迁移率粒径谱仪（Scanning Mobility Particle Sizer）是一个纳米颗粒粒径谱分析系统，由DMA+FCE组成。DMA（Differential Mobility Analyser）差分粒子电迁移器对颗粒物进行分类， GRIMM DMA符合Vienna型设计特征，对小颗粒物有最高分辨率和最低分散损失。FCE法拉......
产品介绍SMPS+C扫描电迁移率粒径谱仪（Scanning Mobility Particle Sizer）是一个纳米颗粒粒径谱分析系统，实验室型由DMA+CPC5416组成检测系统，19’机架式由DMA+CPC5420组成检测系统，用于5nm ~ 1100nm的纳米颗粒分析。GRIMM DMA符合Vienna型设计特征，对小颗粒物有最高分辨率和最低分散损失......
扫描电迁移率粒径谱仪SMPS+C和SMPS+E双系统GRIMM SMPS+C系统采用传统的差分电迁移率粒径分级器（DMA）和凝聚核粒子计数器（CPC）技术结合，两种不同型号的DMA可以同时检测5—350纳米或10—1100纳米的气溶胶的粒径分布。根据应用不同，可以选配移动式：CPC 5403，实验室固定式：CPC 5416 或 ......
中文名：微米级粒度标准物质英文名：Micron-size reference material纯度：平均粒径19.77μm，中值粒径20.37μm，体积平均粒径20.12μm货号：M283829存储温度：室温产品介绍：使用注意事项：使用前要将样品放于超声波分散器中分散1～2分钟。最小统计量1000个颗粒。本标准物质中含少量防腐剂，切勿入口。查看阿拉丁官网此产......