基于宽视野的徕卡超高分辨率系统Super Resolution Ground State Depletion可以帮您获得20纳米分辨率的图像.集成了多项功能的解决方案:Leica SR GSD 系统也能够完成高灵敏、高速、多通道荧光以及温度控制下的宽场和TIRF(全内反射荧光术)功能。 激光器选用了3个高能量激光(300-1000mW): 488n......
高频介电常数及介质损耗测试仪GCSTD-A/B主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)应用对象:该仪器用于科研、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准:GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数......
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。......
工频介电常数及介质损耗测试仪GCSTD-CII满足标准:GB/T1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007 液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量GB/T 21216-2007 绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法GB/T 1693-2007 硫化橡胶 介......
工频介电常数及介质损耗测试仪GCSTD-CII满足标准:GB/T1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007 液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量GB/T 21216-2007 绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法GB/T 1693-2007 硫化橡胶 介......
KIPP&ZONEN DustIQ 灰尘监测系统 产品技术指标:Specifications传输损耗(TL)范围被遮挡或散射的太阳光的比,使其不能达到实际的太阳能电池。0 – 50%污染率(SR)范围100 – 50% (SR = 100 –TL)传输损耗测量......
NHT³ 纳米压痕测试仪适合在纳米到微米的尺度下测量硬度、弹性模量、蠕变以及其他表面特性。它的量程为 0.1 mN 至 500 mN,提供最大的通用性。由于独特的表面参比技术,无需等待其达到热稳定状态,开机立即进行仪器压痕测试。“快速点阵”压痕模式可实现高效率(每小时测试量高达 600 个压痕)。在独特的 Step 表面试平台上......
高频介电常数及介质损耗测试仪GCSTD-A/B主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)应用对象:该仪器用于科研、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准:GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数......
高频介电常数及介质损耗测试仪GCSTD-A/B主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)应用对象:该仪器用于科研、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准:GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数......
介质损耗和介电常数是各种金属氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物质的一项重要的物理性质。通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据。 介质损耗测试仪的仪器用途 该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究。 参考标准 GB/T 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、......