安徽白光测量仪
Zeta-20 Optical Profiler产品描述Zeta-20是一款紧凑牢固的全集成光学轮廓显微镜，可以提供3D量测和成像功能。该系统采用ZDot技术，可同时采集高分辨率3D数据和True Color（真彩）无限远焦点图像。 Zeta-20具备Multi-Mode（多模式）光学系统、简单易用的软件、以及低拥有成本，适用于研发及生产环境。Zeta-20......
一、用途 （1）二、三维表面形貌测量 （2）膜厚和台阶测量 （3）刻线和沟槽尺寸测量 （4）任意曲面形貌测量 （5）球面和非球面轮廓非接触测量 （6）MEMS器件三维尺寸测量 （7）微光学元件测量 二、仪器构成 （1）宽带光干涉显微镜 （2）垂直位移扫描工作台 （3）摄像及图像处理系统 （4）工控机 三、测量原理 ......
仪器的原理，主要构成与特点与WIVS-I型 基本相同，其区别如下： 1 、干涉显微镜为自主设计，具有4x、10x、20x、40x、60x、100x等显微镜组，用户可根据测量视场范围及横向分辨率的要求挑选。而WIVS—I型由于是6JA干涉显微镜改造而来，其物镜是固定的，为40x。因此WIVS-II型干涉显微镜的测量视场扩大了，显微镜......
STELLARIS白光激光器在为多色实验选择荧光探针时，您无需做出妥协。 现在，您可以超越传统激发源，摆脱在荧光团选择和多元成像能力方面的限制。扩展多色能力。更少妥协。STELLARIS新一代白光激光器（WLL）与我们提供的Power HyD探测器系列中最佳匹配的探测器相结合，使您可自由选择所有光谱，并准确组合适当的探针来解答您的实验问题。 WLL与我们自有......
Zeta-388 Optical Profiler Zeta-388支持3D量测和成像功能，并提供整合隔离工作台和晶圆盒到晶圆盒的晶圆传送系统，可实现全自动测量。该系统采用ZDot™技术，可同时采集高分辨率3D数据和True Color（真彩）无限远焦点图像。Zeta-388具备Multi-Mode（多模式）光学系统、简单易用的软件、低拥有成本，......
Energetiq公司开发的宽带白光光源，采用激光泵浦的方式维持等离子体放电发光，避免了使用电极所带来的种种缺陷。EQ-77激光驱动白光光源• 辐射亮度> 40mW / mm2.sr.nm（波长相关） - 可用于快速测量• 极低的噪音和出色的空间稳定性 - 带来精确且可重复的实验结果• 紧凑型灯箱，采用水冷和清洁结构 - 保证寿命长、稳定性好• 宽光谱......
EQ-9激光驱动白光光源• 辐射亮度> 10mW / mm2.sr.nm（波长相关） - 可用于快速测量• 极低的噪音和出色的空间稳定性 – 带来精确且可重复的实验结果• 双光束输出或更高亮度输出的单光束（集成反射器） - 用于更多灵活性光学科研实验• 紧凑的灯箱和稳固的结构 – 保证长寿命和稳定性• 宽光谱范围、超高亮度 - UV-Vis-NIR（1......
Energetiq公司开发的宽带白光光源，采用激光泵浦的方式维持等离子体放电发光，避免了使用电极所带来的种种缺陷。激光驱动白光光源EQ400• 辐射亮度> 100mW / mm2.sr.nm（取决于波长） - 可用于快速测量• 极低的噪音和出色的空间稳定性 - 带来精确且可重复的实验结果• 双光束输出或更高亮度输出的单光束（集成反射器） - 用于更多灵......
F54-XY-200薄膜厚度测量仪能够利用先进的光谱反射系统，快速、轻松地测量大尺寸200x200mm样品的薄膜厚度。电动XY工作台可以自动移动到选择的测量点，并提供每秒两点的快速厚度测量。您可以从数十种预定义的极性、矩形或线性测量坐标图案中进行选择，也可以创建自己不受限制的测量点。这个桌面系统的设置只需几分钟，任何具有基本计算机技能的人都可以使用。F54-......
F54-XY-200薄膜厚度测量仪是一种自动薄膜厚度测绘系统。它采用先进的光谱反射系统，能够快速、轻松地测量大200x200mm样品的薄膜厚度。配备电动XY工作台，可自动移动到选定的测量点，并提供每秒两点的快速厚度测量。用户可以从数十种预定义的极性、矩形或线性测量坐标图案中进行选择，也可以创建自己编辑的不受限制的测量点数量。该桌面系统只需几分钟即可完成设置，......