fib聚焦离子束显微镜和sem电镜

产品特点:双束加工观察系统 JIB-4700F能进行高分辨观察、高速分析、高速加工的FIB/SEM 装置。随着先进材料构造的微细化和制造过程的复杂化,形貌观察、元素分析和晶体分析等的评估技术也对分辨率和精度有了更高的要求。为了满足这些需求,JEOL推出新一代双束加工观察系统JIB-4700F。 该设备的SEM镜筒中采用了超级混合圆锥形物镜、GB模式和in-l......

第二代专为冷冻断层扫描分析制备冷冻超薄切片的冷冻聚焦离子束显微镜Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam(冷冻聚焦离子束显微镜,Cryo-FIB)是一款专用的冷冻双束显微镜系统,可为高端冷冻透射断层扫描分析提供最佳的样品制备流程。核心优势:为使用 Autoloader 的透射制备冷冻断层扫描专用的冷冻......

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点击查看下载Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料,进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加,需要更严格、更高质量的分析,以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜(SEM)可以提供样品表面微观结构的详细(纳米级)信息,因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X......

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