白光干涉法的原理
一、用途 （1）二、三维表面形貌测量 （2）膜厚和台阶测量 （3）刻线和沟槽尺寸测量 （4）任意曲面形貌测量 （5）球面和非球面轮廓非接触测量 （6）MEMS器件三维尺寸测量 （7）微光学元件测量 二、仪器构成 （1）宽带光干涉显微镜 （2）垂直位移扫描工作台 （3）摄像及图像处理系统 （4）工控机 三、测量原理 ......
仪器的原理，主要构成与特点与WIVS-I型 基本相同，其区别如下： 1 、干涉显微镜为自主设计，具有4x、10x、20x、40x、60x、100x等显微镜组，用户可根据测量视场范围及横向分辨率的要求挑选。而WIVS—I型由于是6JA干涉显微镜改造而来，其物镜是固定的，为40x。因此WIVS-II型干涉显微镜的测量视场扩大了，显微镜......
Leica DCM8 白光共焦干涉/光学表面测量系统产品规格下载Leica DCM8采用了最新的非接触式三维光学表面测量技术。设计用于提高您的工作效率，它是一款融合了高清晰度共聚焦显微镜和干涉测量技术优点的多功能双核系统。一键模式选择，精密软件、无移动部件的高分辨率共聚焦扫描技术确保用户实现超快速的分析操作。 可通过各种规格的徕卡物镜、电动载物台和镜筒来对系......
产品创新点上市时间：2019年3月(1)高测量性能 ，垂直方向分辨率高，重现性好，测量速度快，测量视野广，无损伤测量(2)易于使用的操作界面(3)ISO 25178参数对比工具(4)硬件全面升级产品简介 日立高新技术科学公司于2019年3月起，在中国开始销售利用光干涉原理进行非接触式无损伤三维表面形态测量的纳米尺度3D光学干涉测量系统“VS1800”，该......
Xper WLI 白光干涉仪 Xper WLI 白光干涉仪Xper WLI 是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量......
点击查看下载6470液质安捷伦 蛋白（肽段）定量的原理及的解决方案相关资料，进一步了解产品。 本文详细的介绍了蛋白（肽段）定量的意义及出现 MRM 质谱技术平台的缘由、MRM 肽段定量的基本原理、安捷伦 MRM 肽段定量的完整定义以及安捷伦 LC/QQQ 肽段定量应用实例等。 Agilent 6470 三重四极杆液质联用系统Agilent 6470 三重四极......
F54-XY-200薄膜厚度测量仪能够利用先进的光谱反射系统，快速、轻松地测量大尺寸200x200mm样品的薄膜厚度。电动XY工作台可以自动移动到选择的测量点，并提供每秒两点的快速厚度测量。您可以从数十种预定义的极性、矩形或线性测量坐标图案中进行选择，也可以创建自己不受限制的测量点。这个桌面系统的设置只需几分钟，任何具有基本计算机技能的人都可以使用。F54-......
F54-XY-200薄膜厚度测量仪是一种自动薄膜厚度测绘系统。它采用先进的光谱反射系统，能够快速、轻松地测量大200x200mm样品的薄膜厚度。配备电动XY工作台，可自动移动到选定的测量点，并提供每秒两点的快速厚度测量。用户可以从数十种预定义的极性、矩形或线性测量坐标图案中进行选择，也可以创建自己编辑的不受限制的测量点数量。该桌面系统只需几分钟即可完成设置，......
SuperViewW中图白光干涉三维轮廓仪以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像。它能以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸，典型结果包括：表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等）；几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和体积，特征图形的位置和数量等等）......
中图仪器SuperViewW1白光干涉三维光学轮廓仪基于白光干涉原理，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等，能以3D非接触方式对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量。典型结果包括：表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等......