microtrac麦奇克报告
无论是对颗粒大小分布进行优化还是寻找更具体的方法来展示材料的特性，麦奇克的这款新仪器都将提高客户的生产力，并使他们能够探索和优化其材料特性。使用我们先进的方法，当用激光衍射法进行湿法还是干法测量的同时也可以用高速相机进行拍照，测试结数据将被通过Flex软件采集并呈现给用户颗粒大小和形态的信息。Flex软件功能非常强大，用户界面也非常直观和非常容易使用。和以前......
纳米粒度测量——先进的动态光背散射技术随着颗粒粒径的减小，例如分子级别的大小，颗粒对光的散射效率急剧降低，使得经典动态光散射技术的自相关检测（PCS）变得更加不确定。40多年来，Microtrac MRB一直致力于激光散射技术在颗粒粒度测量中的应用。作为行业的先锋，早在1990年，超细颗粒分析仪器 UPA（UltrafineParticle Analyzer......
作为激光散射技术研究的先行者，经过近半个世纪的不断探索，开发出一代又一代先进的激光粒度分析仪。全新的S3500系列激光粒度分析仪以革新的技术，拓展测试下限至0.01μm。它采用现代模块式设计，内置高能量，高稳定性，超长寿命的固体二级管激光器。对非球形颗粒的米氏理论修正，保证每一次样品分析的测量精度。Microtrac S3500系列产品蓝波2型(BWDL))......
实验室颗粒图像分析动态图像分析方法（DIA）是一种可以生成并存储运动颗粒的数字化图像，并且通过分析图像来识别颗粒特征的分析方法。根据颗粒在图像上占据的位置和尺寸所覆盖的像素，来得到颗粒的形状信息。PARTAN 3D独特的分析技术，除了可以记录2D分析具有的颗粒大小和形状参数外，还可以记录颗粒的厚度信息。并且只需要一次运行即可完成颗粒的追踪功能。强大的3D分析......
纳米粒度测量——先进的动态光背散射技术Zeta电位测量：Microtrac MRB以其在激光衍射/散射技术和颗粒表征方面的独到见解，经过多年的市场调研和潜心研究，开发出新一代NANOTRAC WAVE II微电场分析技术，融纳米颗粒粒度分布与Zeta电位测量于一体，无需传统的比色皿，一次进样即可得到准确的粒度分布和Zeta电位分析数据。与传统的Zeta电位分......
Microtrac MRB：作为一个颗粒表征解决方案的供应商。我们为客户提供先进的技术，以不断获得可靠的结果。创新和质量是我们成功的基础。激光粒度粒形分析仪 S3500SI：一台仪器，具备两种测量技术- 静态激光衍射法- 动态图像分析法操作软件：提供强大的数据处理能力，包括图形，数据输出/输入，个性化输出报告及各种文字处理功能，数据的完整性符合21 CFR ......
质谱检测器是定性分析中有效的方法之一。但是，同时它有较差的定量分析能力。由于它只分析了微量气体，所以很难获得较好的定量结果。通过选择合适的材料和组分分层，麦奇克拜尔制造了更高定量功能的在线质谱BELMASS II。利用管路加热和配备干泵，BELMASS II甚至能检测氨气。BELMASS II 在线质谱仪-产品特点• 桌面四级杆质谱分析仪• 管理加热功能确保......
仪器简介：AEROTRAC II能应用于不同的领域，包括来自喷嘴的液滴、雾化器、杀虫剂、护肤液、加湿器、喷雾分离器、粉体涂料和不同的粉体。AEROTRAC II光学系统的优势是具有非常宽的测量空间，并且提供多种类型的测量，提供不同的附件以适合不同客户的应用。提供不同类型喷雾器的固定夹具几种不同夹具适合不同尺寸和形状的喷雾器，这保证了任何时候都是在同一位置喷雾......
Microtrac s3500系列产品蓝波2型(BWDL)湿去测量范围:0.01-2,800um;千法测量范围:0.25-2,800um皮1型BWSL)湿法测量范围:0.01-2,000um;干法测量范国:0.25-2.00um增强型( Enhanced)湿法测量范围:0.02-2,800um;干法测量范围:0.25-2,800um展型( eXtended)......
技术特点一台仪器,具备两种分析技术,即采用静态激光衍射技术和图像分析技术同时测量样品。测量范围:0.01-2800um(有多种测量范围可选择0.75-2000um光源:激光衍射专利三束国体激光器动态图像分析高性能频闪LED分析时间:动态图像分杠1 Minute激光衍射接受角度:0.02-163检测器:151个检测单元,以对数方式优化排列的高灵敏硅光电二极管信......