tem晶格条纹测量距离
PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多场测量系统，该产品是一种革命性的原位透射电子显微镜实验系统，使研究者可以在透射电子显微镜中构建一个可控的多场环境（包括力、热、光、电等）。PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多场测量系统，该产品是一种革命性的原位透射电子显微镜实验系统，使研究者可以在透射电子显微镜中构建一个可控的多场环境（包括力、热、......
PicoFemto透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统，是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量。PicoFemto透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统，是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体......
PicoFemto透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统,是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量。PicoFemto透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统，是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体......
PicoFemto透射电子显微镜原位TEM-STM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量。PicoFemto透射电镜原位STM-TEM力电一体测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、......
PicoFemto透射电镜原位STM-TEM电学测量系统，是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量。PicoFemto透射电镜原位STM-TEM电学测量系统，是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化......
原位MEMS-TEM-STM多场测量系统（非定量力+电+光+加热）是一种革命性的原位透射电子显微镜实验系统，使研究者可以在透射电子显微镜中构建一个可控的多场环境（包括力，热，光，电等），从而对材料或者器件等样品实现多重激励下的原位表征。原位MEMS-TEM-STM多场测量系统（非定量力+电+光+加热）是一种革命性的原位透射电子显微镜实验系统，使研究者可以在透......
皮米级绝对距离测量干涉仪（独家） 皮米级绝对距离测量干涉仪（可试用） 昊量光电推出的皮米级绝对距离干涉测量仪quDIS是目前市面上同类别独特可以测量皮米级绝对距离的干涉仪。基于其独特的测量原理，相对距离......
岛津电子探针EPMAEPMA-1720系列适用于 玻璃条纹缺陷的形貌及元素分析 项目，参考多项行业标准/ VBA。可以检测 玻璃 等样品。可应用于多个行业领域。 本文使用岛津扫描探针显微镜SPM和电子探针EPMA对三类玻璃条纹缺陷进行了测试和分析。在玻璃制品生产过程中，产生条纹的因素有很多，对于玻璃条纹缺陷形态、成分及元素分布特征的表征可以为条纹缺陷产生的原......
在特定材料上如要达到一定的雕刻效果，就要求吸收一定能量的激光，这一能量应看作是材料吸收的激光能量=激光功率/雕刻速度。简单地讲就是要提高材料吸收的激光能量，就应提高激光功率或是降低雕刻速度，至于说最后采用哪种方法就要看材料和最终的雕刻效果。焦点错位・位置错位均可自动补偿通过内置测距传感器，始终实测到刻印部位的距离，对准焦点。也会追随意料之外的目标物的高度、倾......