尼康ti-u
用于高端生物科学研究领域的新型倒置显微镜系列 TIRF、共聚焦、FRET、光活化和显微注射技术帮助科学家们克服了许多活细胞成像中的困难。所有技术的核心就是Ti，拥有这款强有力的新型倒置显微镜，您可以在尼康CFI60®光学系统的帮助下轻松使用上述技术。Ti系列共有三种型号，改进的系统速度，提升的灵活性和高效多模式特点使Ti......
KLA D600 探针式表面轮廓仪KLA D600 探针式表面轮廓仪产品介绍：KLA D600 探针式表面轮廓仪采用光学杠杆传感器技术提供高分辨率、较大的高度测量范围和准确的微力控制。探针的接触式测量技术的优点是直接测量，与材料特性无关。多种力度调节和探针尺寸选择可以让机台对各种结构和材料进行准确测量。这些功能可以表征因添加或移除材料而引起的形貌特征改变，以......
KLA P-7 探针式台阶仪KLA P-7 探针式台阶仪产品介绍：KLA P-7 探针式台阶仪是KLA公司的探针式台阶仪系统。KLA P-7 探针式表面轮廓仪建立在P-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。它保持了P-17技术的测量性能，并作为台式探针轮廓仪平台提供了性价比。KLA P-7 探针式台阶仪可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量......
Filmetrics F10-RT 光反射膜厚仪Filmetrics F10-RT 光反射膜厚仪产品介绍：Filmetrics F10-RT 薄膜厚度测量仪以真空镀膜为设计目标，F10-RT 薄膜厚度测量仪只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需简单操作。用户就能进行 FWHM 并进行颜色分析。&......
KLA Profilm3D 光学轮廓仪KLA Profilm3D 光学轮廓仪产品介绍：KLA Profilm3D 是一款3D白光干涉轮廓仪。KLA Profilm3D 光学轮廓仪使用垂直干涉扫描(WLI)技术与相位干涉(PSI)技术。以较低的价格实现次纳米级的表面形貌研究。采用白光干涉原理，不损伤样品。KLA Profilm3D 光学轮廓仪产品特点优势：视场......
Filmetrics F20 薄膜厚度测量仪测量厚度从1nm到10mm的先进膜厚测量系统不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数，还是想要知道材料的反射率和透过率，F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过USB连接电脑，设备就可以在数秒内得到测量结果。基于某模块化设计的特点，F20适用于各种应用：• 测量厚度、折射率、反射率和穿透率：- &n......
HORIBA UVISEL Plus 椭圆偏振光谱仪HORIBA UVISEL Plus 椭圆偏振光谱仪产品介绍：HORIBA UVISEL Plus 相位调制型椭圆偏振光谱仪基于新版的电子设备，数据处理和高速单色仪，Fastacq技术能够为用户提供高分辨及快速的数据采集。FastAcq为薄膜表征特殊设计，双调制技术使您可以获得完整的测试结果。相位......
R50电阻率测量仪FilmetricsR50系列提供两种测量方式：接触式四点探针（4PP）和非接触式涡流（EC）测量。R50能够以1点/秒的速度测量导电膜的电阻率/电导率。电动X-Y载物台可使用通用或定制样品架，适用于最大300mm的样品和200mm的面积。新型的R50系列具有四点探头和涡流探测系统，可测量导电薄层和半导电膜的电阻，X-Y行程可达200mm，......
R50电阻率测量仪FilmetricsR50系列可进行接触式四点探针（4PP）和非接触式涡流（EC）测量。R50以每秒快速1点的速度映射导电膜的电阻率/电导率。电动X-Y载物台可使用标准收益或定制制样品架，可测量300mm的样品，200mm的面积。新!R50系列四点探头和涡流探测系统可根据X-Y行程大200mm测量十年的范围导电薄层电阻和半导电膜。接触式和非......
R50电阻率测量仪FilmetricsR50系列提供接触式四点探针（4PP）和非接触式涡流（EC）测量。R50以快1点/秒的速度映射导电膜的电阻率/电导率。电动X-Y载物台使用你准缩厂收益或定制制样品架，大可测量300mm的样品，大可测量200mm的面积。新!R50系列四点探头和涡流探测系统以矩形，线性，极性和自定义配置X-Y行程大200mm测量十年的范围导......