尼康ti-u
用于高端生物科学研究领域的新型倒置显微镜系列 TIRF、共聚焦、FRET、光活化和显微注射技术帮助科学家们克服了许多活细胞成像中的困难。所有技术的核心就是Ti，拥有这款强有力的新型倒置显微镜，您可以在尼康CFI60®光学系统的帮助下轻松使用上述技术。Ti系列共有三种型号，改进的系统速度，提升的灵活性和高效多模式特点使Ti......
FilmSense FS-8 多波长椭偏仪FilmSense FS-8 多波长椭偏仪产品介绍：第四代FilmSense FS-8 多波长椭偏仪使用长寿命的LED光源和无移动部件的椭圆偏振探测器。在便携的紧凑型系统中提供快速而可靠的薄膜测量。通过简单的1秒测量，可以以很高的精度和准确度测定大多数透明薄膜的薄膜厚度和折射率，并对样品进行光学常......
Filmetrics F10-HC 光反射膜厚仪Filmetrics F10-HC 光反射膜厚仪产品介绍：Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪是以Filmetrics F20 白光干涉仪膜厚仪为基础所发展而来。F10-HC 薄膜厚度测量系统独特的接触式探头大大降低反射干扰的影响，能够快速的分析薄膜的反射光......
有着超过30年历史的Table Stable已成为主动隔振系统供应商的，且在这个领域上有着相当丰富的经验。于此同时Table Stable测量技术取得了巨大的进步，一些灵敏度很高的仪器可能是一个自然谐振频率的被动系统，只有主动隔振系统才能消除共振。Table Stable通过在发展主动隔振系统的同时补充了被动系统，新的主动隔振系统可为灵敏的仪器提供各种消除振......
Filmetrics F54-XYT-300 自动测量光学膜厚仪Filmetrics F54-XYT-300 自动测量光学膜厚仪产品介绍：Filmetrics F54-XYT-300 自动测量光学膜厚仪借助F54-XYT-300的光谱反射系统，可以快速轻松地测量200 x 200mm样品的薄膜厚度。电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提......
R50电阻率测量仪FilmetricsR50系列提供两种测量方式：接触式四点探针（4PP）和非接触式涡流（EC）测量。R50能够以1点/秒的速度测量导电膜的电阻率/电导率。电动X-Y载物台可使用通用或定制样品架，适用于最大300mm的样品和200mm的面积。新型的R50系列具有四点探头和涡流探测系统，可测量导电薄层和半导电膜的电阻，X-Y行程可达200mm，......
R50电阻率测量仪FilmetricsR50系列可进行接触式四点探针（4PP）和非接触式涡流（EC）测量。R50以每秒快速1点的速度映射导电膜的电阻率/电导率。电动X-Y载物台可使用标准收益或定制制样品架，可测量300mm的样品，200mm的面积。新!R50系列四点探头和涡流探测系统可根据X-Y行程大200mm测量十年的范围导电薄层电阻和半导电膜。接触式和非......
R50电阻率测量仪FilmetricsR50系列提供接触式四点探针（4PP）和非接触式涡流（EC）测量。R50以快1点/秒的速度映射导电膜的电阻率/电导率。电动X-Y载物台使用你准缩厂收益或定制制样品架，大可测量300mm的样品，大可测量200mm的面积。新!R50系列四点探头和涡流探测系统以矩形，线性，极性和自定义配置X-Y行程大200mm测量十年的范围导......
HORIBA SZ-100V2 纳米颗粒分析仪HORIBA SZ-100V2 纳米颗粒分析仪产品介绍：一台简洁小巧的装置能同时实现对纳米粒子三项参数的表征：粒径、Zeta电位和分子量。纳米技术的研发是一个持续不断的过程，在分子和原子水平上控制物质以获得新、好、先进的材料和产品。为了得到效率高性能好的产品，并减少能量的消耗，HORIBA 推出了SZ-......
KURATECA HS华山系列被动式减震台KURATECA HS华山系列被动式减震台产品介绍：KURATECA HS华山系列被动式减震台采用：半膜片式空气弹簧、整体焊接支架、铁磁不锈钢台面（同OTP台面）的气浮隔振光学平台，整体高度800mm，分为气浮式支架和台面两部分。平台自带脚轮，方便移动和调整。这款产品刚性强、稳定性好、隔振效果好、性价比高，适合于对隔......