fei sem 软件
Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR（极高分辨率）SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中，它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度，满足材料精密测量所需，同时又不会削弱传统扫描电子显微镜 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、样本灵活性和易用性等优势。Verios 的生命科学......
点击查看下载（原FEI) 透射电镜Verios XHR SEM 样本相关资料，进一步了解产品。 观测敏感的生物样本时，过高的成像电压带来的电子束会损伤样本，从而无法在细胞研究中观测关键细节。Verios XHR 扫描电子显微镜 (SEM) 最低可在 1kV 的电子束电压下工作，因而能最大限度减少样本干扰，同时又不会削弱分辨率和对比度。生物研究人员现在可以处......
点击查看下载赛默飞（原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 ......
点击查看下载Verios XHR SEM透射电镜（原FEI) 应用于其他化工相关资料，进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加，需要更严格、更高质量的分析，以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜（SEM）可以提供样品表面微观结构的详细（纳米级）信息，因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X 射线能谱仪（E......
点击查看下载（原FEI) Verios XHR SEM透射电镜 电子显微镜产品目录相关资料，进一步了解产品。 赛默飞电子显微镜产品目录 观测敏感的生物样本时，过高的成像电压带来的电子束会损伤样本，从而无法在细胞研究中观测关键细节。Verios XHR 扫描电子显微镜 (SEM) 最低可在 1kV 的电子束电压下工作，因而能最大限度减少样本干扰，同时又不会削弱......
点击查看下载（原FEI) 赛默飞Verios XHR SEM 金属行业微观分析解决方案相关资料，进一步了解产品。 Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR（极高分辨率）SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中，它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度，满足材料精密测量所需，同时又不......
点击查看下载透射电镜（原FEI) Verios XHR SEM 应用于地矿/有色金属相关资料，进一步了解产品。 观测敏感的生物样本时，过高的成像电压带来的电子束会损伤样本，从而无法在细胞研究中观测关键细节。Verios XHR 扫描电子显微镜 (SEM) 最低可在 1kV 的电子束电压下工作，因而能最大限度减少样本干扰，同时又不会削弱分辨率和对比度。生物研......
产品描述：ThermoScientific Scios2DualBeam是一款超高分辨率分析系统，可为的最广泛类型的样品，包括磁性和不导电材料提供出色的样品制备和三维表征性能。Scios2DualBeam系统创新性的功能设计，优化了样品处理能力、分析精度和易用性，是满足科学家和工程师在学术和工业环境中进行高级研究和分析的理想解决方案。Scios2DualBe......
产品描述：新一代的赛默飞世尔科技Helios5DualBeam具有Helios5产品系列业界领先的高性能成像和分析性能。它是根据需求精心设计的，可满足材料科学研究人员和工程师对最广泛的FIB-SEM使用需求，即使是最具挑战性的样品。Helios5DualBeam重新定义了高分辨率成像的标准：材料对比度最高，高质量样品制备最快、最简单、最精确，用于S/TEM成......
产品描述：ThermoScientificScios2DualBeam是一款超高分辨率分析系统，适用于各种类型的样品，包括磁性和不导电材料。它提供出色的样品制备和三维表征性能。Scios2DualBeam系统设计创新，针对样品处理能力、分析精度和易用性进行了优化，是科学家和工程师在学术和工业环境中进行高级研究和分析的理想选择。Scios2DualBeam可以......