白光干涉仪测试

STELLARIS白光激光器在为多色实验选择荧光探针时,您无需做出妥协。 现在,您可以超越传统激发源,摆脱在荧光团选择和多元成像能力方面的限制。扩展多色能力。更少妥协。STELLARIS新一代白光激光器(WLL)与我们提供的Power HyD探测器系列中最佳匹配的探测器相结合,使您可自由选择所有光谱,并准确组合适当的探针来解答您的实验问题。 WLL与我们自有......

仪器简介:         德国FRT测量系统(白光干涉仪)应用于所有类型的表面测量分析。采用一个或多个传感器高精密地测量轮廓,表面粗糙度,平面度、平行度以及形貌特征和薄膜厚度等。适合研究开发和生产质量控制。 仪器使用光学白光色差传感器进行非接触无损伤测量,......

Bruker三维光学显微镜(白光干涉仪)

参考成交价格: 暂无

布鲁克 其它光学测量仪

型号:Bruker三维光学显微镜(白光干涉仪)

400-6699-117 转 4822 在线询价 闪电回复

三维光学显微镜布鲁克作为全qiu三维表面测量与观察业界的ling dao者,提供从微观如MEMS(微机电系统)到宏观如发动机腔体等不同大小样品的快说非接触式分析。如今的三维显微镜已历十代,在原有Wyko®专有技术基础上,不断积累创新,来保证面对各种应用环境时精确三维测量所需的高灵敏度和稳定性;而这一挑战往往是其他测量技术或测量系统难以克服的。布鲁克三维光学显......

德国BMT WLI白光干涉仪        采用ACM 600 共焦显微镜可对物体的表面和结构进行非接触式的测量,评估和显示。装配不同的显微物镜,测量视场大小和精度也不同。视场的扩展可通过钉合的方式来实现。       ......

 WLI LA 白光干涉仪   本仪器比以往的显微镜可测面积大得多,使用者需在大测量面积和大数值孔径之间进行适当平衡。数值孔径决定了横向分辨率和可测量的微观/宏观表面倾斜程度。选择大约1.5 cm²的测量面积代表了zei适宜的平衡点。干涉仪可测量大的测量面积使其用来主要进行平面度测量,而对于微观结构则会获取太多无......

白光干涉仪概述Rtec 白光干涉仪在加利福尼亚硅谷制造。已被多个知名实验室、大学和行业使用。UP系列在一个头上组合了4种成像模式。能够在同一测试平台上运行多种测试,只需单击按钮,就能转换成像模式。这种组合可以轻松地对任何表面进行成像如透明、平坦、黑暗、扁平、弯曲的表面等。每种成像模式都具有各自的优势,并且各项技术彼此互补。该项整合技术不仅有利于数据的综合分析......

         WLI测量系统是为准确测量表面轮廓、粗糙度、台阶高度、微观结构和其它表面参数而设计,可满足电子、汽车、制造工业的使用需求。扩展的显微镜模式能使用户获得具有以下特点的3D图像,对图像缩放、钉合、标记无效值、选择视场等操作。 测量和评估软件可自动测量,用户可......

稳定的结构设计以及高度的集成化使得Polaris能够胜任在生产线及严苛的工业环境。Polaris专注于快速准确测量。Polaris白光干涉仪支持多种3D传感器,适用于各种类型的材料表面测量,包括高反光和倾斜的材料表面。强大的软件既能满足产线灵活的自动化重复检测需求,又能针对实验室的各种不同要求进行单独配置。令人难以想象的快速3D检测技术让Polaris在价格......

·便携式·灵活·高精度·快速·稳健可靠 白光干涉法是一个确定地形和表面光滑粗糙的方法。测量精度可达到近似纳米理论上无限的高度范围。便携式白光干涉仪能用来能测量和分析大型工件。该仪器可以直接放在表面测量。因为底部特殊的三点设计,该设备可以直接放在表面被测量,甚至弯曲表面是可以衡量的。数据分析是在笔记本或桌面电脑原位做的。这款白光干涉仪尺寸紧凑和结构稳......

白光干涉仪

参考成交价格: 暂无

GBS 轮廓仪/粗糙度仪

型号: SmartWLl-extended

400-6699-117 转 1000 在线询价 闪电回复

  通用 •  高度精密 •  快速 •  稳健可靠 •  自动拼接 白光干涉法是一个确定地形和表面光滑粗糙的方法。测量精度可达到近似纳米理论上无限的高度范围。这款白光干涉仪能够用来测量和分析样本的纳米分辨率。数据分析是在笔记本或桌面电脑原位上做的。......