自动观察自动完成光路调整、扫描参数设定、图像处理 使用标准样品和标准探针时操作用时5分钟**自动观察模式,扫描范围1um× 1um ,256×256点阵。操作时长依赖于操作者。 传统的原子力显微镜需要人工调整光路、设定扫描参数、进行图像处理。但是SPM-Nanoa可以帮助用户毫无压力地完成这些操作性能优异从光学显微......
参考成交价格: 200~300万元[人民币]
Park原子力显微镜 扫描探针显微镜/SPM(原子力显微镜)
型号:Park NX-Hivac
Park原子力显微镜AFM及扫描探针Park NX-Hivac适用于AFM失效分析项目,参考多项行业标准。可以检测半导体,电子器件等样品。可应用于电子/半导体行业领域。 电动激光对准Park电动激光对准使用户无需输入即可无缝衔接自动化测量例程。凭借着我们先进的预准直悬臂架,在更换探针时激光已对准悬臂。只需要调整定位旋钮,便可在X和Y轴上任意定位激光光点,达......
点击查看下载Park原子力显微镜AFM及扫描探针Park NX10 其他资料相关资料,进一步了解产品。 Park NX10为您带来最高纳米级分辨率的数据,值得您信赖。它是全球唯一一个真正非接触式原子力显微镜,在延长探针使用寿命的同时,还能良好地保护您的样品不受针尖损坏。独立的XY扫描器平板扫描器和Z扫描器可带来无与伦比的精确度和分辨率。Accurate A......
参考成交价格: 100~150万元[人民币]
Park原子力显微镜 扫描探针显微镜/SPM(原子力显微镜)
型号:Park NX10
点击查看下载Park原子力显微镜AFM及扫描探针帕克 NX10 原子力显微镜 Park AFM 成像模式相关资料,进一步了解产品。 真正非接触模式可以保持探针锐利以及样品表面不受到破坏,从而提供更为精确的结果。在真正非接触模式下,压电调制器按照接近于悬臂共振频率的固定频率,使悬臂产生小幅度振动。在针尖接近样品的过程中,针尖与样品之间的范德瓦耳斯力使悬臂振动的......
参考成交价格: 100~150万元[人民币]
Park原子力显微镜 扫描探针显微镜/SPM(原子力显微镜)
型号:Park NX10
点击查看下载Park原子力显微镜帕克 NX10 原子力显微镜AFM及扫描探针 Park AFM选项相关资料,进一步了解产品。 Z轴探测器是全新NX系列原子力显微镜的核心技术之一。它是Park独创的新型应变传感器。凭借着0.2埃的超低噪声一跃成为行业内噪声最低的Z轴探测器。超低噪声让Z轴探测器可作为默认的形貌信号,全新的NX系列原子力显微镜与前几代的原子力显......
点击查看下载AFM及扫描探针Park原子力显微镜Park NX20 样本相关资料,进一步了解产品。 没有前沿或后沿过冲现象终身无需校准,减少设备维护成本Park NX系列原子力显微镜 传统的原子力显微镜 QuickStep SCM模式比传统的扫描式电容显微镜(SCM)扫描速度快十倍信号灵敏度、空间分辨率和数......
参考成交价格: 250~300万元[人民币]
Park原子力显微镜 扫描探针显微镜/SPM(原子力显微镜)
型号:Park NX20
AFM及扫描探针帕克 NX20 原子力显微镜Park原子力显微镜 Park NX系列 C-AFM Users Manual 针对不同使用环境,有着不同的操作与维护流程,点击查看操作维修手册。 在C-AFM测量中,导电尖端以接触模式AFM扫描表面,以映射出同一表面的形貌。同时,通过测量针尖与样品之间的电流,来反映样品表面的电导率等电特性。一般情况下,针尖与样品......
参考成交价格: 200~300万元[人民币]
Park原子力显微镜 扫描探针显微镜/SPM(原子力显微镜)
型号:Park NX-Hivac
帕克 NX-Hivac 原子力显微镜AFM及扫描探针Park原子力显微镜 Park NX系列 C-AFM Users Manual 针对不同使用环境,有着不同的操作与维护流程,点击查看操作维修手册。 在C-AFM测量中,导电尖端以接触模式AFM扫描表面,以映射出同一表面的形貌。同时,通过测量针尖与样品之间的电流,来反映样品表面的电导率等电特性。一般情况下,针......
参考成交价格: 暂无
Park原子力显微镜 扫描探针显微镜/SPM(原子力显微镜)
型号:Park NX12
点击查看下载Park原子力显微镜AFM及扫描探针Park NX12 AFM干货分享:原子力探针显微术基础及其研究进展相关资料,进一步了解产品。 综合性的力谱方法Park NX12提供了一种在液态和空气中的纳米力学表征的完整套餐,使其成为广泛应用中的理想选择. 模块化NX12模块化设计,安装简单,兼容性强,可以满足您的多种实验需求。&......
AFM原子力显微镜分析 布鲁克 Dimension ICON6 原子力显微镜支持接触、轻敲、峰值力轻敲等12种模式,满足不同样品检测需求,为半导体晶圆厂、FAB及封装厂提供了多样化的检测手段。服务内容电学特性分析:DCUBE-SCM载流子分布、CAFM电流检测、3D NAND界面电荷表面形貌与缺陷检测:纳米级表面形貌成像、缺陷定位与分......