就在今天下午2点钟，共同见证“布”凡！

配备XFlash® FlatQUAD探测器的新型Bruker QUANTAX FlatQUAD“超级平插EDS”系统，彻底改变了扫描电子显微镜（SEM）能谱（EDS）元素分析，使其变得常规且简单。探测器采用创新的四通道“跑道型“设计，放置在SEM极靴和样品之间得到更大的立体角，实现更高的采集效率。这种设计非常适合对具有挑战性的样品进行定性和定量表征分析，例如：

·       对电子束敏感的材料，如生命科学和生物薄切片样品

·       半导体元器件

·       电池材料（如阳极、阴极颗粒、黑物质等）

·       纳米颗粒和FIB/TEM制备的薄片样品

·       形貌不平整起伏大的样品

·       荷电反映严重的样品（如玻璃和陶瓷等）

分析这些样品通常需要样品制备或设置极具挑战性的参数，如非常低的加速电压和束流。传统的EDS探测器，无论是单个还是具有倾斜几何结构的多个大面积SDD，都无法在这些条件下收集到所需的信号质量，以进行准确和定量分析。

使用QUANTAX FlatQUAD“超级平插EDS”系统，实验人员可以轻松处理这些样品，速度无与伦比（比传统方法快10倍至50倍），通常情况下甚至不需任何特殊制备。

会议时间

2024年11月13日，下午2:00-3:00（北京时间）

直播间入口

报告人

陈剑峰 博士

布鲁克纳米分析部，应用科学家

效果如何？先睹为快！

惊喜在最后！

技术讲解及讨论环节结束后，我们有三轮幸运抽奖活动，欢迎广大感兴趣的朋友们参与！好礼来袭，更有无价值的超级平插体验做样，敬请期待！

订阅视频号：

扫码关注我们

布鲁克纳米分析

www.bruker.com