论坛报道丨帕克参加“2023复旦国际论坛—自组装材料前沿进展”论坛

Accurion EP4 椭偏仪

用途：各种表界面上薄膜的厚度和折射率(n/k值）测量。

● 横向分辨率（x/y方向）小至1微米，薄膜厚度测量精度0.1纳米。

● 三合一：布鲁斯特角显微镜、成像椭偏仪和成像表面等离子共振（SPR)三位一体。

●多种技术联用。如：原子力显微镜（AFM),表面等离子共振（SPR),反射光谱（RefSpec),拉曼光谱仪（RamanSpec),石英晶体微天平（QCM),白光干涉仪（WLI)和LB槽/膜天平等。

●独家选区测量功能：实现微结构试样和微小试样的选区椭偏测量。

●独家光斑切割技术：真正实现超薄透明，基底上薄膜的无背底反射椭偏测量。

Accurion UltraBAM 布鲁斯特角显微镜

用途：水面和油水界面高分子薄膜的动态原位观测，如水面自组装单分子层的演变、碳链长度测量和官能团表征、高分子乳化和液相沉积原位分析等。

● 完全的气/液界面、液/液界面、液/固界面和气/固界面分析测量方案。

● 可搭配LB槽（Langmuir-Blodgett)使用；可搭配石英晶体微天平（QCM)使用。

● 模块化设计，可升级为成像椭偏仪

●横向分辨率（x/y方向）小至1微米

●“斜角成像全聚焦技术，视频录制

 本次论坛邀请了来自中国、德国、以色列、日本和韩国等14位优秀学者，从跨学科角度涵盖了化学、纳米材料和生物学等学科的超分子材料的各个方面。考虑到动态材料将在未来发挥关键作用，论坛将为从事研究、开发、应用超分子材料的科研工作者提供一个跨学科、跨领域的交流平台。

  作为首次参加椭偏仪学术会议，帕克公司将以“国际化、专业化、精准化、优质化”及“积极进取、开拓创新”之姿来共同探讨自组装材料的现今发展和未来趋势，并继续推出智能高效的显微镜，助力解决集成电路装备核心零部件“卡脖子”问题，为半导体产业设备核心零部件国产化发展做出贡献！ 

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