（第四届纳米科学论坛正在直播欢迎参会)今日下午三点半Live Demo: 使用FX40进行多点快速AFM自动化测量

  原子力显微镜 (AFM) 以亚纳米分辨率测量样品的表面形貌和其他物理特性，提供三维图像 ，因此它被广泛用于纳米测量研究中，并成为工业和研究应用中不可或缺的工具 。传统的AFM具有复杂的操作和处理过程。自动化原子力显微镜Park FX40融合了人工智能和机器学习，其自动探针识别、自动换针、自动激光校准、自动近针功能和 SmartScan 软件为需要最高分辨率图像和纳米级测量的繁忙研究人员简化了原子力显微镜的使用。

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申请参会

2022年10月27日

15:30-16:00

第一步，

FX40 使用自动换针模块， 使用机器学习实现自动对光和光学悬臂识别，以实现最佳悬臂选择。

第二步，

“样品”允许用户使用两个内置的高性能光学观察系统选择样品和所需的初始成像区域。

最后一步，

开始自动 AFM 扫描和数据采集，并根据用户的测量点自动匹配合适的参数。