2022-10-08 13:26:45, Phenom 复纳科学仪器(上海)有限公司
Phenom
颗粒统计
分析测量系统
Particle Metric.
飞纳扫描电镜以卓越的微观检测能力被大家熟知,简单的操作、方便的测样、快速的成像以及友好的界面为飞纳带来了不少粉丝。其实,飞纳电镜除了强大的微观检测能力之外,它也有许多实用的可拓展功能。飞纳电镜的这些“三头六臂”让客户在进行微观分析时如虎添翼,今天就来谈一谈其中被很多人关注的 颗粒统计分析测量系统。
在检测粉末样品时,除了形貌观察,我们有时还有统计其粒径、圆度等的需求。如果我们依靠人工手动测量统计,会耗费很大的人力和时间。此时,如果有一款软件能基于微观形貌自动统计颗粒的具体信息,就会方便很多。
“
客户有需求,飞纳有方案
颗粒统计分析测量系统应运而生
Particle Metric|原理
扫描电镜只能进行“黑白”成像,而颗粒与周围背景 “亮度” 不一致,根据这一差异,系统会自动识别到颗粒。
点击识别图中颗粒
▼
检测方式
可以根据客户不同检测需求进行统计,比如融合颗粒的识别设置(图1)、最小识别颗粒尺寸(图2)、边缘颗粒是否统计(图3)等等。
图1 融合颗粒识别
图2 最小识别颗粒尺寸
图3 边缘颗粒统计
统计结果
颗粒统计分析测量系统会把识别到的颗粒一一列出来,操作员可以根据需求可以删除不满意颗粒。其次,系统会把每一个颗粒的具体信息统计出来,比如面积、等效圆直径、长轴长度、短轴长度等十几项数据,全面地了解样品。
当获得了满意的统计结果之后,还可以根据需要生成散点图、柱状图等统计图表(横纵坐标自主确定),并自动生成统计报告,颗粒统计结果一目了然。
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