这台AFM，可直接扫描大尺寸样品！随身携带，一个针尖进行上千次扫描！

在使用传统的原子力显微镜（AFM）对大型工业产品进行形貌表征时，由于受到传统AFM样品台尺寸的限制，首先需要对工业产品进行一定程度的破坏来提取一个可放置在AFM上的样品，再对该样品进行形貌表征。然而，一些工业产品如果对其提取样品，会带来灾难性的后果，如飞机机翼，各类发动机和车船轴承。同时，对于大型工业产品而言表面形貌表征往往是分析材料失效，断裂分析和表面保护等领域不可或缺的检测手段。

为了解决这一问题，加拿大ICSPI公司设计和生产的便携式Vertex原子力显微镜（AFM），基于其研发的芯片式自感应探针技术，摆脱了传统AFM对激光的依赖，带给了传统AFM革命性的变化！Vertex便携式芯片原子力显微镜（AFM）具有小巧灵活、方便携带，操作简单，扫描速度快，可直接扫描工业产品，无需维护、无需减震、超级稳定等优点，适合各类工业产品的表面检测和野外作业等场景的3D表面形貌快速成像分析。Vertex AFM所采用的颠覆性创新技术很大程度上降低了传统AFM的复杂操作，也拓宽了传统AFM的应用范围！

图1. Vertex便携式芯片原子力显微镜（AFM）实物图。左图Vertex便携式原子力显微镜，右图为Vertex核心的压电扫描探针。