2022-09-27 17:29:49, 牛津仪器 牛津仪器科技(上海)有限公司
粗糙度测量仪器的优缺点
AFM 提供最为出色的纵向分辨率,最高可以到达 10 pm ,但在纵向测量范围上就比较受限,最高只能到 20 微米,至于 AFM 以及触针式轮廓仪的横向分辨率则是受限于针尖大小,对一些高性能 AFM 来说,原子大小是其分辨率的极限;三维光学设备的横向分辨率受限于光的波长和数值孔径。其中,AFM 还可以搭配不同模块,表征样品多种特性,最后,由于 AFM 在纵向特有的高分辨率,对于超光滑高精密抛光样品来说,使用 AFM 来表证可说是天作之合。
测量粗糙度影响因素
样品本身带有的粗糙度是本征的(intrinsic),不管我们做不做测量,这个粗糙度都存在的,但实际测得的粗糙度是非本征的(extrinsic),测量时的参数设置会影响所得到的结果,因此在测量时要更加小心。首先看到扫描速度(scan rate)和增益值(I gain),这两个参数决定了探针会花多少时间,又会多快的反应样品表面起伏变化,若是扫描速度快,增益小,探针不能很好地追踪表面,那计算出来的粗糙度就会偏小(如图 2 )。在这里要注意的是,探针若是不能很好地追踪样品轮廓,不仅是测量到的粗糙度不准确,还有可能导致针尖变钝,进一步地影响粗糙度测量。
图 2 使用不同扫描速度和增益值得出的样品形貌及粗糙度
图像像素点的密度也是个影响因素。下图展示了同一区域,用三种像素点密度扫描的结果,随着像素点越密,对于表面轮廓的记录越完整,也越能反映样品完整的细节,得到较为准确的粗糙度;不过当像素点密度增大到一定程度,继续增大只会导致扫描时间变长。扫描范围的选择也是一个因素,随着扫描范围的减小,粗糙度一般是下降的趋势。
图 3 不同像素点密度下得出的粗糙度
总结
测量粗糙度的目的是为了知道样品表面轮廓起伏,使用合适的测量参数,尽可能完好的反映出真实情况,得出更趋于真实的数据,才能更好地帮助工艺工程师优化后续的实验条件。
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the Surface Roughness of Thin Films and Substrates with Atomic Force Microscopy(AFM)
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