一睹为快：帕克原子力显微镜的精彩“进化史”

  视频中，Park Systems全球销售总监LEE Youn-gi在采访中提到"原子力显微镜和光学显微镜不同的是，原子力显微镜可以在纳米尺度下3D测量样品的形状和物性。"他还说到"现在世界顶尖的半导体公司基本都在使用Park AFM，尤其是在产业半导体方面Park一直拥有行业第一的市场占有率。"

  在视频的三分四秒，介绍了Park公司核心技术之一，真正非接触模式(True Non-Contact Mode)。Park独有的非接触模式在不与探针和样品直接接触情况下也可以进行表面测量。

  另，在片尾视频还简单介绍了Park一款可以测量晶圆甚至可以自动发现缺陷的原子力显微镜 - Park NX-Wafer。NX-Wafer可以自动检测和分析当前光学器件难以发现的晶圆纳米级缺陷，因此在半导体 CMP硅片和存储器等领域都备受关注。