2019-11-22 07:33:09 赛默飞材料表征仪器
随着半导体制程的逐渐高阶化,芯片封装形式的多样化、小型化,ESD(Electro-Static discharge)测试在实际应用场景中出现了诸如不同机台之间分析及对比的差异性、寄生电容对芯片器件的测试结果影响、latchup闩锁效应测试中条件设定逐步复杂化、以及接触式CDM(Charged Device Model)测试方法的演变等等实际问题。
旨在推进ESD测试技术在芯片鉴定、失效分析等领域中的应用与发展,努力解决上述研究热点和实际难题,赛默飞世尔科技(简称:赛默飞)分别在11月6日、8日于上海和北京各举办了一场ESD产品测试技术研讨会。我们有幸邀请到了半导体行业内的芯片制造商、检测检验机构、高校研究所等众多国内ESD产品测试用户,共商ESD测试技术解决方案,共享ESD测试技术研究动态,从而推动ESD测试技术的发展与测试标准的建立。
*现场精彩图片
*会议合影
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赛默飞CTS业务部门总经理
Carl Rosenblatt
赛默飞CTS业务部门总经理Carl Rosenblatt对CTS业务部门进行了简要介绍。CTS(Compliance Test Solution)业务部门成立于1975年,是ESD测试设备与技术研发的全球领导者。CTS业务部门具备雄厚的技术人才储备,我们拥有业内顶尖应用工程专家,且作为国际静电协会工作组成员,长期从事静电测试理论研究、标准制定、设备研发等工作。我们旨在让电子产品更可靠,我们的模拟器和测试系统专为电子产品、组件和子系统的测试而设计,同时满足ESD和EMC国家标准、国际标准以及行业标准。截止目前,我司的HBM/MM以及latchup测试设备在全球市占率达到95%以上,装机量超过1000台。我们的合作伙伴涵盖业内一流公司,如三星、台积电、格罗方德(Global Foundries)、AMD、英特网、中芯国际、华虹宏力半导体、富士康、汇顶科技等等。
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赛默飞ESD应用工程师
Tom Meuse
Tom Meuse作为资深ESD应用工程师、技术专家,同时作为世界ESD协会器件测试(WG-5.x)委员会的成员,他简单介绍了ESD测试相关背景知识,回顾了ESD标准以及常规测试方法。此外,Tom Meuse着重介绍了EOS(Electrical Over Stress)的来源、造成的破坏以及测试方法,同时阐述了闩锁效应的发生原因、模拟与条件,并介绍了我司针对闩锁效应提供的先进测试系统。
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赛默飞CTS产品应用科学家
Marcos Hernandez
赛默飞CTS产品资深应用科学家Marcos Hernandez发表了题为“ESD相关性分析和寄生效应”的演讲。随着技术的变化和节点的缩小,新的相关性问题层出不穷,使用最新的ESD模拟器进行测试,才是应对相关性问题的解决之道。Marcos Hernandez也介绍了低阻抗接触式CDM测试的前沿研究,分享了CCDM的最新实现成果LI-CCDM。
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赛默飞EFA产品业务开发总监
Al Feng
从事赛默飞电性失效分析(EFA)产品线的业务开发总监Al Feng简要介绍了针对ESD/EOS故障定位方面的EFA解决方案。应对故障定位无损分析的发展趋势,赛默飞能够提供系列产品,可对芯片级、包装级与电路板级的产品进行无损电气故障定位,让ESD/EOS故障缺陷无“藏身”之处。此外,赛默飞能够提供业界领先工作流程,加快产品缺陷识别、实现根本原因分析。
赛默飞半导体综合解决方案
物理分析
电性能分析
结构分析
电子显微镜
电性能分析
分子及元素光谱分析
2D/3D成像软件分析
量测技术
合规性测试
合规性测试
合规性测试
合规性测试
合规性测试
静电放电
闭锁测试
可靠性验证
离子色谱分析
等离子体质谱分析
金属元素分析
质谱分析
液态,离子,气体层析法
痕量元素分析
实验室信息学
在线监测/分析
环境监控
来料检验
制冷器
手持式分析仪器
材料/气体质量监控
生产支持仪器
量测设备
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