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徕卡EM TIC 3X可以灵活选择多种样品台,不仅适用于高通量实验,也适合于特定制样需求实验室。依据您具体需求,每一台徕卡 EM TIC 3X都可装配多种可切换样品台,如标准样品台,三样品台,旋转样品台或冷冻样品台,应用于常规样品制备,高通量样品制备,以及某些高分子聚合物,橡胶或生物材料等温度敏感样品制备。其与徕卡 EM VCT环境传输系统相连接,可以实现将冷冻的生物样品表面受保护地被真空冷冻传输进入镀膜仪或冷冻扫描电镜[Cryo-SEM)中,或者应用于地质或工业材料样品,实现真空传输。
三离子束(分别独立控制),冷冻样品台及多样品台,确保离子束对样品处理高效,切割区域宽且深,从而获得高质量截面切割结果。
独特的三离子束系统,可获得zei佳的截面处理质量,并可高效获得宽且深的切割区域,大大降低工作时间。并可实现在一次处理过程中zei多处理3个样品。因此对有高通量需求的实验室,徕卡EM TIC 3X是zei佳解决方案。
多种多样的样品托,适合于各类尺寸样品。
根据您的样品制备需要,可以有针对性地在徕卡EM TIC 3X上装配一体化设计样品台-标准样品台,多样品台或冷冻样品台。
除了剖面切割,使用同一样品托还可对样品进行清洁及增强衬度的功能。
针对温度敏感型样品如橡胶或水溶性高分子聚合纤维等,可以使用冷冻样品台对样品进行低温下处理,获得高质量处理结果。样品托和挡板的温度都可达到-150° C。
几乎任何材质样品都可获得高质量截面,在没有任何变形或损伤的情况下揭开样品内部zei真实结构信息,在使用徕卡EM TIC3X之前,这类工作从未变得如此之简单。
徕卡EM TIC 3X三离子束切割仪适宜处理软/硬复合、带有孔缝结构、热敏感性、脆性及非均质样品,获得样品截面,从而进行扫描电子显微镜(SEM),微区分析(EDS,WDS,Auger,EBSD)及原子力显微镜或扫描探针显微镜(AFM,SPM)检测。
抛光机徕卡Leica EM TIC 3X 样本,Leica EM TIC 3X
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