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HysitronTS SelectTesting Modes
纳米压痕
高精度力学表征
纳米压痕是表征局部微结构、界面\表面微结构和薄 膜的弹性模噩、硬度 \ 蠕变、应力松弛和断裂韧性的常见技术 。采用布鲁克 的 Hysit ron T「iboScope 电容式传感器技术,丁 S Select 支持纳米到微米尺度定星可靠的力学 性能测量。
力学性能成像
快速数据采集和高速成像
TS Select 提供比传统纳米压痕测试快180倍的高速测试能力。在写秒两次的纳米压痕测试速度下, 可以在几分钟内得到非均相材料的高分辨率力学性能图像 。此外, 高 速测试可以快速采集和统计分析大量测试数据, 从而提高则罩结果的可信度。
原位SPM成像
实现 的纳米力学
布鲁克原位扫描探针显微技术( SPM ) 利用纳米力学测试的压头扫描样品表面从而实现表面形貌成像。同—尺度下的力学测试和形貌扫描保证了纳米力学表征结果的 性 和可靠性。原位 SPM 成像可以实现纳米尺度的精确定位, 确保力学测试在材料上指定的位置进行。
磨损测试
定量纳米尺度耐磨性能
利用TS Select 的SPM 原位扫描成像技术 , 可以精确测噩磨损量和磨损率随接触力\滑动速度和磨损次数的变化。得 益千宽泛的空间测噩范围, TS Select可以轻松实现局部微观结构、界面和薄膜的摩擦性能测试。
TS Select 控制软件
简化的系统操作和数据分析
布鲁克 丁S Select 的 控制和分析软件包专门针对测试过程进行了精简优化。优化内容涵盖了样品加载、测试设置、测试执行和数据分析。TS Select 控制软件集成了自动化样品测试和仪器校准程序, 来实现简单、 和无误的表征。
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布鲁克S2 PUMA Series Ⅱ能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF)
布鲁克autoflex maX MALDI-TOF/TOF 基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪
布鲁克VERTEX V80/80v傅立叶变换红外光谱仪
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Beacon®单细胞光导系统
群组论坛--扫描探针/原子力显微镜SPM/AFM
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