| 测量时间 | 5-10S | 分辨率 | 见具体说明 |
| 测量范围 | 0.01-3600μm | 重现性 | 优于ISO13320 |
| 分散方式 | 见具体参数说明 | 仪器种类 | 微米纳米型激光粒度分析仪 |
第一次磨抛后表面贴上金相胶带目的是为了防止抛光面在粘贴过程中受损伤；
树脂即能保护样品的边界，又能扩大粘贴面积，使粘贴更牢固。对于脆性样品，研磨时力值尽量小，取出样品时也需小心；
对于金属等韧性较好的样品，相对可以减薄至更小厚度，但同样也要注意取出时防止用力过大或者应力导致变形。
对于TEM分析，样品厚度要求在10~200nm之间，在薄片样品制备完成后需通过离子减薄或电解双喷等方式继续减薄。
在众多分析领域中，我们经常会遇到需要制备薄片样品的应用，例如，岩相光片分析，透射电镜分析，高温显微镜下组织分析等，需要制备1mm以下，甚至微米级的薄片试样。
岩相光片的样品可以将样品通过树脂粘结在载玻片上，然后使用PetroThin进行精确的切割、研磨减薄。
1. 分析方法：激光散射/激光衍射
2. 湿法测量范围：0******m
3. 测量时间：5-10 s（单一测量时测量值记录）；2 min（整个测量循环）
4. 分析样品回路体积：300-500ml，可调节容积, 可调速径向泵
5. 测量周期：2min
6. 光学排列：反傅立叶设计，活动的测量元件（FRITSCHzhuan利）
7. 测量通道：165
8. 测量结果的重xian性：≤0.5％
9. 光源：波长532nm 2束、波长940 nm 1束
10. 双激光三束设计：绿光、红色双激光测量光束，绿色激光束背向补偿
11.傅里叶透镜：260mm和560mm焦距（绿光或红外线）
12.软件：采用FRITSCH MaS控制软件，用于控制，记录和评估测量结果
13.符合国际ISO13320标准
主要特点：
1. 大量程激光粒度仪A22 MicroTec Plus，可完全替代以前的紧凑型、微米型、大量程微米型激光粒度仪
2. 双激光三束设计: 绿光2束 (532nm)， 红色激光1束 (940nm)
3. 先进的曲光系统
4. 双测量位置
5. 测量时间10 sec.
6. gao效的自动光束测量阵列
7. 测量系统和湿法分散系统du立分开
8. 适用于在水相及大多数有机相（例如异丙醇） 中使用
9.可调节容积, 通过电脑可实现选择：300、400、500ml
10.测量单元使用 Cardridge-like 设计 -> 易于转换改变
11.可调节的超声波探头
12.无须使用搅拌器
激光粒度分析仪 大量程激光粒度仪 Analysette 22 NanoTec Plus可用于生物制药/仿制药,橡胶,塑料,纤维,涂料,地矿/钢铁/有色金属,大量程激光粒度仪 Analysette 22 NanoTec Plus
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