激光粒度分析仪 大量程激光粒度仪 Analysette 22 NanoTec Plus可用于高分子材料,生物质材料,电池/锂电池(飞驰)

研磨抛光是金相制样的关键步骤，不少朋友在磨样时总是碰到划痕去不掉、有颗粒嵌入、彗星拖尾或者抛光布寿命短的现象，这和我们平时的制样习惯有很大关联。下面我们分享一些磨抛Tips，大家平时制样时需要注意养成这些好习惯，可以避免磨抛过程中出现的很多问题哦。

镶嵌样品经粗磨后，树脂边缘都较为锋利，在不倒角的情况下进行抛光，由于刚启动的瞬间静摩擦大于动摩擦力，样品会有小角度的倾斜，锋利的树脂边缘可能会划伤抛光布，同时也影响磨抛效果。这样不仅需要更换新的抛光布，增加了成本，还需要重新进行磨抛，降低了工作效率。而镶嵌样品进行倒角后形成圆润的边缘，在启动抛光时可有效保护抛光布，增加抛光布使用寿命。

技术参数：

1. 分析方法：激光散射/激光衍射
2. 湿法测量范围：0******m
3. 测量时间：5-10 s（单一测量时测量值记录）；2 min（整个测量循环）
4. 分析样品回路体积：300-500ml，可调节容积, 可调速径向泵
5. 测量周期：2min 
6. 光学排列：反傅立叶设计，活动的测量元件（FRITSCHzhuan利）
7. 测量通道：165 
8. 测量结果的重xian性：≤0.5％
9. 光源：波长532nm 2束、波长940 nm 1束
10. 双激光三束设计：绿光、红色双激光测量光束，绿色激光束背向补偿
11.傅里叶透镜：260mm和560mm焦距（绿光或红外线）
12.软件：采用FRITSCH MaS控制软件，用于控制，记录和评估测量结果
13.符合国际ISO13320标准
主要特点：
1. 大量程激光粒度仪A22 MicroTec Plus，可完全替代以前的紧凑型、微米型、大量程微米型激光粒度仪
2. 双激光三束设计: 绿光2束 (532nm)， 红色激光1束 (940nm)
3. 先进的曲光系统
4. 双测量位置
5. 测量时间10 sec.
6. gao效的自动光束测量阵列 
7. 测量系统和湿法分散系统du立分开
8. 适用于在水相及大多数有机相（例如异丙醇） 中使用
9.可调节容积, 通过电脑可实现选择：300、400、500ml
10.测量单元使用 Cardridge-like 设计 -> 易于转换改变
11.可调节的超声波探头
12.无须使用搅拌器        

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