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Fritsch公司的A22 MicroTec Plus 大量程激光粒度仪,采用聚焦激光散射或激光衍射的原理进行样品颗粒度的检测。*低检测下限可达0.08µm ,在全球同类产品中都处于lin先地位。大量程激光粒度仪A22的推出,可以完全替代之前Fritsch公司所生产的紧凑型、微米型、大量程微米型激光粒度仪
主要特点:1. 大量程激光粒度仪A22 MicroTec Plus,可完全替代以前的紧凑型、微米型、大量程微米型激光粒度仪2. 双激光三束设计: 绿光2束 (532nm), 红色激光1束 (940nm)3. 先进的曲光系统4. 双测量位置5. 测量时间10 sec.6. gao效的自动光束测量阵列 7. 测量系统和湿法分散系统du立分开8. 适用于在水相及大多数有机相(例如异丙醇) 中使用9.可调节容积, 通过电脑可实现选择:300、400、500ml10.测量单元使用 Cardridge-like 设计 -> 易于转换改变11.可调节的超声波探头12.无须使用搅拌器
技术参数:
1. 分析方法:激光散射/激光衍射2. 湿法测量范围:0******m3. 测量时间:5-10 s(单一测量时测量值记录);2 min(整个测量循环)4. 分析样品回路体积:300-500ml,可调节容积, 可调速径向泵5. 测量周期:2min 6. 光学排列:反傅立叶设计,活动的测量元件(FRITSCHzhuan利)7. 测量通道:165 8. 测量结果的重xian性:≤0.5%9. 光源:波长532nm 2束、波长940 nm 1束10. 双激光三束设计:绿光、红色双激光测量光束,绿色激光束背向补偿11.傅里叶透镜:260mm和560mm焦距(绿光或红外线)12.软件:采用FRITSCH MaS控制软件,用于控制,记录和评估测量结果13.符合国际ISO13320标准
激光粒度分析仪 大量程激光粒度仪 Analysette 22 NanoTec Plus采用聚焦激光散射或激光衍射的原理进行样品颗粒度的检测,大量程激光粒度仪 Analysette 22 NanoTec Plus
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