您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?
如果企业客服不在线,也可拨打400电话联系。或者发布求购信息
发布时间:2023年08月
霍尔效应测试系统(霍尔效应测试仪)HET-3RT依据范德堡法则测量材料的电运输性能参数,如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等,薄膜或薄层材料均可测量,可应用于所有半导体材料,包括Si、ZnO、SiGe、SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量),广泛应用于国内高校、研究所、半导体、金属、高热导有机新材料等行业。
产品特点
● 自主知识产权产品。
● 采用高精密度恒流源和电压表,确保仪器测试的良好准确度和高稳定性,性能优越。
● 自动控制磁场方向的改变,更加方便准确。
● 样品装夹方式快速方便,且使用能够解决欧姆接触的样品芯片。
● 产品工业外观采用一体化、精密化设计,融入人性化的设计理念,不仅赏心悦目而且操作方便。
● 智能化的用户界面操作简单,功能齐全的软件平台带给客户友好的操作体验,使测试过程更加方便快捷。
产品技术参数
设备型号
HET-3RT
温度范围
RT
磁感应强度
0.68T
恒流源范围
1nA~100mA
电压表范围
1nV~30V
迁移率范围
1~107cm2/(V·s)
霍尔系数范围
10-3~109cm3/C
载流子浓度范围
107 ~1021/cm-3
电阻率范围
10-6~107Ω·cm
样品尺寸
边长或直径:10mm~20mm
厚度:10nm-1mm
主机尺寸
570x545x380(mm)
重量
50kg
产品应用
● 判断半导体材料类型
● 太阳能电池片的制程辅助
● 晶圆电性能的判断
● 热电材料研究
霍尔效应测试系统,HET-3RT
霍尔效应测试系统信息由武汉嘉仪通科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于霍尔效应测试系统报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
群组论坛--测试分析仪器专家
您可能要找:嘉仪通霍尔效应测试霍尔效应测试系统价格HET-3RT霍尔效应测试参数
Copyright ©2007 ANTPedia, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号