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交叉光学(B&P)系统是X射线衍射仪发展过程中突破性技术进步,即衍射仪测角仪两套光学系统并存,软件控制,实现在发散光学系统(B)与平行光学系统(P)相互切换,满足不同测试目的需要,拓展衍射仪应用领域。
发散光学系统(B):用于常规的材料结构分析,物相定性、定量分析、Kα1、α2剥离、全谱图拟合、衍射线条指标化、无标样定量分析等功能、晶体积分。
平行光学系统(P):由X射线多层膜反射镜将发散光聚焦成平行光束,平行光束发散度小于0.5mrad。与三维样品架配合,实现对大于200nm薄膜样品测量。可实现对薄膜样品进行薄膜反射分析XRR(针对多晶、单晶多层薄膜厚度、密度、粗糙度进行精确分析)、薄膜掠入射分析GIXRD(精确分析多层膜中材料的组成、次序、取向等)。
可适用于:DX-2700系列、DX-2800X射线衍射仪。
丹东浩元创新的交叉光学(B&P)系统,丹东浩元创新的交叉光学(B&P)系统
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