安科慧生高灵敏度重金属X射线荧光光谱分析仪台式机PHECDA-HE&HES用于测定空气滤膜，符合行业标准HJ 829-2017 环境空气颗粒物中无机元素的测定能量色散 X 射线荧光光谱法。适用空气滤膜元素含量，PM2.5膜中无机元素，空气滤膜标准样品，空气颗粒物重金属项目。
常规XRF需要大量标准样品建立标准曲线，这对于元素种类多、含量范围宽的PM2.5颗粒物相当困难，标准样品昂贵且难以获得，即使有标准样品，其在元素相关性和含量范围等方面也难以满足建立经验系数法的要求。北京安科慧生研发的快速基本参数法（Fast FP）在欠缺标准样品情况下，即可对空气滤膜进行无机元素定量分析，采用少数标准样品（或定值样品）即可对系统进行偏差校正和分析质控，达到空气滤膜中无机元素准确定量分析目的。
多元素分析高灵敏度X射线荧光光谱仪(HS XRF)
高性能XRF台式机PHECDA-HE&HES
1.概述
高灵敏度X射线荧光光谱仪（HS XRF®）
型号：PHECDA-HES
型号：PHECDA-HE
核心技术：
硬件：单色化聚焦技术HS XRF®
软件：快速基本参数法Fast FP®
• 硬件核心技术：单色化聚焦激发技术
全聚焦双曲面弯晶将X射线管出射谱某一特定波长单色化并聚焦衍射至样品点，因此从样品出射的X射线除了样品中的元素被激发产生的荧光X射线和单色化入射谱线的散射线外，不存在连续散射背景，从而保证待测元素特征线具有极低的背景干扰。
• 软件核心技术：快速基本参数法
快速基本参数法Fast FP2.0
XRF法面临的难题是基体效应、元素间吸收-增强效应、标准样品欠缺等问题，对于不同类型样品的定量分析带来挑战。
基本参数法是当前X射线荧光领域的研究前沿， 快速基本参数法（Fast FP®）通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，将物理学明确的物理现象建立相应的数学模型，基本参数法充分计算X射线光产生的各种效应，减少分析误差，通过少量标准物质（或定值样品）的校正得到更为精确的元素定量结果。
• 高灵敏度X射线荧光光谱仪PHECDA与快速基本参数法联用提供行业解决方案：
解决方案 | 解决问题 | 应用特点 | 应用领域 | |
土壤无机元素分析 |
| • 优化镉的检出能力，土壤镉的检出限达到0.06mg/kg | 环境监测、地质地矿、土壤检测、大学科研 | |
水质重金属检测 | | • 重金属富集膜片技术（HMET）与HS XRF联用，将水质重金属检出限降低至1-3ug/L | 环境水质应急监测、环境水质现场检测 | |
固废重金属检测 |
| • Fast FP对各类固体废物的基体自适应 | 环境监测、环境司法鉴定、科学研究、固废处理企业 | |
PM2.5无机元素分析 |
|
| 环境监测、空气污染源调查、科学研究 | |
食品重金属快速检测 | | • 提供全套食品前处理设备与方案，样品处理简单，检测速度快 | 食品安全领域、公安系统食品安防、海关食品监管 | |
矿石全元素分析 |
| • 提供现场矿石元素含量整体解决方案 | 地质、矿产、有色、海关 | |
中药重金属含量检测 |
| • Fast FP算法对各类中药基体的适应与背景扣除 | 中药行业 | |
石化产品中金属元素含量分析 |
| • 对石化产品中金属元素检出限达到0.1mg/kg水平 | 石油化工 | |
水泥窑协同处置 |
| • Fast FP算法对各类样品基体的自适应 | 建材工业、水泥企业 |
2.特点
高灵敏度X射线荧光光谱仪具备重金属痕量检测能力，快速基本参数法（Fast FP）提升元素精确定量水平，两项核心技术的结合，为XRF元素检测带来新的应用前景。
2.1 单色化聚集激发技术
高灵敏度XRF重金属分析仪采用双曲面弯晶单色化器，优化元素的激发效率与减少X射线管连续散射线背景，提升元素荧光射线的信噪比。
2.2采用高性能SDD探测器
硅漂移探测器（SDD）是能量色散X射线荧光光谱仪的核心部件，其性能取决于晶体面积、窗口材料、计数率、分辨率等，PHECDA 系列采用当今高性能的SDD探测器，确保元素分析性能。
2.3 Fast FP算法
（1）XRF分析的困难点是元素荧光强度不仅与样品中元素含量相关，也与其它元素含量有关，这就是所谓的基体吸收-增强效应，而这种物理效应，使得选择合适的标准样品成为困难，若选择的标准样品基体不一致、不能含盖待测样品的各元素含量范围，就会对实际样品分析带来误差。
（2）基本参数法（Fundamental parameters method）通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，建立相应的数学模型，基本参数法消除了由于不同类型样品基体差异所产生的背景差异，减少分析误差，通过少数标准品的校正即可得到更为精确的元素定量结果。
2.4 优化镉元素检出能力
镉是有毒重金属，在环境保护和食品安全等领域备受关注，常规XRF对镉（Kα：23.1KeV）的激发和探测存在挑战，高灵敏度X射线荧光光谱仪通过对镉的单色化聚焦激发，对镉的检出限达到的0.06mg/kg水平。
2.5 高通量
PHECDA-HES 配置30位以上自动进样单元； 无需气体、真空等辅助设备
3.规格
指标 | 参数 | 说明 |
原理 | 单波长激发-能量色散X射线荧光光谱法 | |
元素范围 | Mg-U | |
检出限(mg/kg) | Cd：0.06mg/kg Pb：0.4mg/kg | 土壤基体，元素扫描时间300秒 |
重复性 | Cd:0.3mg/kg RSD＜15% | 土壤基体，元素扫描时间300秒 |
样品种类 | 固体样品、液体样品、粉末样品、粘稠样品 | 提供不同样品的制备方案 |
自动进样 | PHECDA-HES配置30位自动进样单元，可条形码扫描 | |
软件 | Fast FP软件系统，支持各种样品应用开发、谱图显示对比、无标定量、标样校正、元素定量分析、数据存储、网络传输 | |
富集技术 | 重金属富集膜片（HMET®）与HS XRF联用技术，水质重金属检出限达到1~3ug/L |
详细技术参数与应用方案请咨询安科慧生工作人员！
4.应用
4.1 痕量元素检出能力
单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪基于全聚焦性双曲面弯晶的单色化聚焦技术，提升元素信号强度的同时大幅降低散射线背景，大幅提升样品元素信噪比，从而将XRF对元素分析延伸至微量和痕量应用领域。
4.2 软件准确定量能力
安科慧生科研人员历时十几年成功开发先进的快速基本参数法（Fast FP），其通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，建立相应的数学模型，快速基本参数法消除了由于不同类型样品基体差异所产生的背景差异，减少分析误差，通过少数标准品的校正即可得到元素定量分析结果。
高灵敏度X射线荧光光谱仪PHECDA系列与快速基本参数法（Fast FP）的强强联合，为以下行业提供完整的解决方案：
应用领域 | 解决方案 | 编号 | 编号 |
环境保护 | 农用地和建设用地土壤无机元素含量分析 | ||
HMET+HS XRF联用应对环境水质重金属应急监测 | |||
固体废物重金属含量检测 | |||
PM2.5无机元素含量分析与数据溯源 | |||
食品安全 | 食品中重金属含量快速测定-X射线荧光基本参数法 | ||
中药中重金属含量检测-HS XRF with Fast FP | |||
化妆品中重金属含量检测-高灵敏度XRF重金属分析仪 | |||
地质矿产 | HS XRF与Fast FP对各类矿石元素含量分析 | ||
稀土元素含量快速检测 | |||
高纯金属（合金）分析 | |||
（铜）精矿元素含量分析 | |||
其它 | 水泥窑协同处置重金属含量分析 | ||
石化产品中金属元素含量分析 |
安科慧生高灵敏度重金属X射线荧光光谱分析仪台式机PHECDA-HE&HES 适用于空气滤膜元素含量，PM2.5膜中无机元素，空气滤膜标准样品，空气颗粒物重金属,PHECDA-HE&HES
安科慧生高灵敏度重金属X射线荧光光谱分析仪台式机PHECDA-HE&HES 适用于空气滤膜元素含量，PM2.5膜中无机元素，空气滤膜标准样品，空气颗粒物重金属信息由北京安科慧生科技有限公司为您提供，如您想了解更多关于安科慧生高灵敏度重金属X射线荧光光谱分析仪台式机PHECDA-HE&HES 适用于空气滤膜元素含量，PM2.5膜中无机元素，空气滤膜标准样品，空气颗粒物重金属报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
移动版：