能散型XRF高灵敏度重金属X射线荧光光谱分析仪台式机安科慧生 固废与危废中毒性元素含量快速检测-HS XRF(安科慧生)

安科慧生能散型XRFPHECDA-HE&HES适用于固废重金属检测，固废重金属测定方法，危废重金属测定，重金属浸出检测，固废毒性元素含量项目，参考多项行业标准GB 5085.6— 2007危险废物鉴别标准 毒性物质含量鉴别。可以检测固废，固体废物等样品。可应用于固体废物/辐射行业领域。

近年来，固废污染问题越来越受到重视。由于固体废物种类多，样品基体复杂、元素种类多、含量范围宽，分析方法存在样品前处理复杂、仪器污染等难题，难以快速分析各类固废毒性元素含量。传统的XRF需要大量标准样品进行定量分析，而固废的多样性使得依赖标准样品建立标准曲线几乎不可能。北京安科慧生推出完整应用方案：高灵敏度X射线荧光光谱仪（HS XRF)与快速基本参数法（Fast FP）应对固废、危废中毒性元素含量检测，样品处理简单，适用于各种类型固废样品，可以快速完成固废样品中毒性元素含量的检测。

多元素分析高灵敏度X射线荧光光谱仪(HS XRF)

高性能XRF台式机PHECDA-HE&HES

1.概述

高灵敏度X射线荧光光谱仪（HS XRF^®）
                                             

型号：PHECDA-HES

型号：PHECDA-HE

核心技术：
        硬件：单色化聚焦技术HS XRF^®
        软件：快速基本参数法Fast FP^®

• 硬件核心技术：单色化聚焦激发技术

    全聚焦双曲面弯晶将X射线管出射谱某一特定波长单色化并聚焦衍射至样品点，因此从样品出射的X射线除了样品中的元素被激发产生的荧光X射线和单色化入射谱线的散射线外，不存在连续散射背景，从而保证待测元素特征线具有极低的背景干扰。

            • 软件核心技术：快速基本参数法

快速基本参数法Fast FP2.0

 XRF法面临的难题是基体效应、元素间吸收-增强效应、标准样品欠缺等问题，对于不同类型样品的定量分析带来挑战。
      基本参数法是当前X射线荧光领域的研究前沿， 快速基本参数法（Fast FP^®）通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，将物理学明确的物理现象建立相应的数学模型，基本参数法充分计算X射线光产生的各种效应，减少分析误差，通过少量标准物质（或定值样品）的校正得到更为精确的元素定量结果。

• 高灵敏度X射线荧光光谱仪PHECDA与快速基本参数法联用提供行业解决方案：

2.特点

 高灵敏度X射线荧光光谱仪具备重金属痕量检测能力，快速基本参数法（Fast FP）提升元素精确定量水平，两项核心技术的结合，为XRF元素检测带来新的应用前景。
     2.1 单色化聚集激发技术
     高灵敏度XRF重金属分析仪采用双曲面弯晶单色化器，优化元素的激发效率与减少X射线管连续散射线背景，提升元素荧光射线的信噪比。

     2.2采用高性能SDD探测器
     硅漂移探测器（SDD）是能量色散X射线荧光光谱仪的核心部件，其性能取决于晶体面积、窗口材料、计数率、分辨率等，PHECDA 系列采用当今高性能的SDD探测器，确保元素分析性能。

     2.3  Fast FP算法

     （1）XRF分析的困难点是元素荧光强度不仅与样品中元素含量相关，也与其它元素含量有关，这就是所谓的基体吸收-增强效应，而这种物理效应，使得选择合适的标准样品成为困难，若选择的标准样品基体不一致、不能含盖待测样品的各元素含量范围，就会对实际样品分析带来误差。
     （2）基本参数法（Fundamental parameters method）通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，建立相应的数学模型，基本参数法消除了由于不同类型样品基体差异所产生的背景差异，减少分析误差，通过少数标准品的校正即可得到更为精确的元素定量结果。

    2.4  优化镉元素检出能力
    镉是有毒重金属，在环境保护和食品安全等领域备受关注，常规XRF对镉（Kα：23.1KeV）的激发和探测存在挑战，高灵敏度X射线荧光光谱仪通过对镉的单色化聚焦激发，对镉的检出限达到的0.06mg/kg水平。

 2.5  高通量
    PHECDA-HES 配置30位以上自动进样单元； 无需气体、真空等辅助设备

3.规格

详细技术参数与应用方案请咨询安科慧生工作人员！

4.应用

4.1 痕量元素检出能力

       单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪基于全聚焦性双曲面弯晶的单色化聚焦技术，提升元素信号强度的同时大幅降低散射线背景，大幅提升样品元素信噪比，从而将XRF对元素分析延伸至微量和痕量应用领域。
   4.2  软件准确定量能力
       安科慧生科研人员历时十几年成功开发先进的快速基本参数法（Fast FP），其通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，建立相应的数学模型，快速基本参数法消除了由于不同类型样品基体差异所产生的背景差异，减少分析误差，通过少数标准品的校正即可得到元素定量分析结果。
      高灵敏度X射线荧光光谱仪PHECDA系列与快速基本参数法（Fast FP）的强强联合，为以下行业提供完整的解决方案：

能散型XRF高灵敏度重金属X射线荧光光谱分析仪台式机安科慧生 固废与危废中毒性元素含量快速检测-HS XRF,PHECDA-HE&HES

能散型XRF高灵敏度重金属X射线荧光光谱分析仪台式机安科慧生 固废与危废中毒性元素含量快速检测-HS XRF信息由北京安科慧生科技有限公司为您提供，如您想了解更多关于能散型XRF高灵敏度重金属X射线荧光光谱分析仪台式机安科慧生 固废与危废中毒性元素含量快速检测-HS XRF报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。